東莞市大中儀器有限公司
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模擬操作耐久試驗(yàn)機(jī)
  • 模擬操作耐久試驗(yàn)機(jī)
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更新時(shí)間:2024-08-28 21:00:01

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Notebook 測試規(guī)格 :

 

磁碟片插入、退出試驗(yàn)。

光碟機(jī)插入、退出試驗(yàn)。

PCMCIA 插入、退出試驗(yàn)。

電池插入、退出試驗(yàn)。

各種接頭插入、退出試驗(yàn)。 PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等

桌面放落試驗(yàn) 。

 

手機(jī)測試規(guī)格 :

 

天線上、下抽取試驗(yàn)。

天線彎曲試驗(yàn)。

電池插入、拔出試驗(yàn)。

連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。

ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。

上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。

短距離落下壽命試驗(yàn)。

SIM 卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。

 

PDA 測試規(guī)格 :

 

CF 卡插拔耐久試驗(yàn)。

Battery 蓋插、拔耐久試驗(yàn)。

DC 插頭耐久試驗(yàn)。

連接器插、拔耐久試驗(yàn)。

筆插拔耐久試驗(yàn)。

觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?yàn)。

ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。

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