衰減實(shí)驗(yàn)

近年來越來越多的零部件廠商導(dǎo)入清潔度檢測設(shè)備，由于操作人員缺乏規(guī)范操作的培訓(xùn)或?qū)η鍧嵍葘?shí)驗(yàn)比較陌生，通常的做法是按照上游廠商提供的操作規(guī)范來執(zhí)行。如果上游的廠商也缺乏相應(yīng)的規(guī)范或作業(yè)指導(dǎo)，實(shí)驗(yàn)如何開展則比較困惑。

   其實(shí)在ISO16232和VDA19標(biāo)準(zhǔn)中有一個實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目-衰減實(shí)驗(yàn)（遞減實(shí)驗(yàn)），該實(shí)驗(yàn)提供了可操作性強(qiáng)的流程來確定顆粒萃取方法是否合適。簡單描述如下:

1.選一組萃取參數(shù)，針對同一個零部件依次進(jìn)行六次萃取，記錄每次的清潔度數(shù)據(jù)。

2.在某一次數(shù)據(jù)與之前數(shù)據(jù)總和的比值低于10%，則證明萃取參數(shù)是合理的。

3.六次實(shí)驗(yàn)結(jié)束，數(shù)據(jù)依然無法滿足比值10%，則需要變更萃取參數(shù)，重復(fù)實(shí)驗(yàn)。

以某零部件為例簡單介紹衰減實(shí)驗(yàn)流程

萃取設(shè)備

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

以某零部件采用重量分析法為例（數(shù)據(jù)如上圖），每次采用1L清洗劑進(jìn)行對同一零部件進(jìn)行沖洗，可以看到在進(jìn)行到第四次萃取時數(shù)據(jù)滿足衰減≤10%原則，說明該零部件需要用1L*4＝4L清洗劑來進(jìn)行殘留顆粒萃取是合理的。同樣的方式也適用于顆粒計數(shù)分級。

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