X射線無損膜厚儀

來源：深圳市鑫捷偉科技有限公司 2017年04月27日 11:21

X射線無損膜厚儀Micro Pioneer XRF-2000系列熒光X射線金屬鍍層測厚儀可用于測量一般工件、PCB及五金、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。只需要10-30秒即可獲得測量結(jié)果, zui小測量面積為直徑為0.1mm的圓面積; 測量范圍：0-35um;

X射線無損膜厚儀其特點(diǎn)為：激光自動對焦、全自動XYZ樣片臺、簡易自動對位、具溫度補(bǔ)償功能、十字線自動調(diào)整、可自行設(shè)計(jì)報(bào)告格式、多鍍層及電鍍液分析、具有競爭力的價(jià)格、五個可選準(zhǔn)直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破壞性測厚儀器的機(jī)型。測量精度：誤差控制在±5%.

X射線無損膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格

檢測系統(tǒng)
檢測器	正比計(jì)數(shù)器
檢測濾片	Co或Ni(選項(xiàng))
X-Y-Z三軸樣片臺
操作模式	高速精密馬達(dá)，可控制加減速
位置控制	鼠標(biāo)定位
	樣品臺窗口控制
	防呆攝錄機(jī)監(jiān)控
	2D、3D、隨機(jī)定位
	程控定位
	箱門開關(guān)感應(yīng)Y軸傳輸
攝像系統(tǒng)
攝像器	彩色數(shù)字CCD攝像頭
顯示模式	顯示器覆蓋模式
刻度線	軟件產(chǎn)生
光束顯示	軟件顯示真實(shí)大小
照明燈	光暗控制
自動修正功能	光束及十字線自動修正
統(tǒng)計(jì)功能
處理項(xiàng)目	zui大/zui小值，位移，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差， Bar圖表R圖表及方型圖等
報(bào)表	五種模式可選
處理能力	zui多90項(xiàng)
標(biāo)志功能	可插入公司標(biāo)志
預(yù)覽	打印前預(yù)覽，可節(jié)省紙張
定性分析
顯示模式	原素頻譜顯示
方法	ROI距離定性分析
原素顯示	卷標(biāo)圖案顯示
指針顯示	顯示原素及測量數(shù)值
ROI顯示	顯示ROI彩色圖
放大功能	局部放大
平均功能	柔和顯示頻譜
窗口大小	無級別式窗口大小

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