手機出廠前都做過哪些測試 宏展帶您走進了解！

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跌落測試
跌落測試是為了保障用戶手機不小心發(fā)生摔落下使手機不容易發(fā)生電氣性能損壞。
該測試高度一般為0.8米，每個產(chǎn)品要對6個面進行跌落測試。
在實驗室現(xiàn)場，使用華為P6進行了一次跌落測試，隨著一聲清脆的手機與大理石撞機聲后，華為P6依然能夠正常使用，設(shè)備旁還有一塊顯示屏可以觀看通過設(shè)備旁兩臺高速記錄的手機跌落到大理石上的瞬間。

滾筒測試
所謂的滾筒測試主要目的在于在異常情況下結(jié)構(gòu)空間發(fā)生干涉、單板器件受到應(yīng)力、殼體裝飾件脫落等潛在失效風(fēng)險。
每款產(chǎn)品測試都要經(jīng)過0.5m和1.0m各100圈測試，每50圈檢查一次。

按鍵耐久測試
在實驗室中還有四臺按鍵耐久測試設(shè)備，其會對用戶使用頻繁的器件進行按壓測試，經(jīng)過測試通過的華為產(chǎn)品要滿足電源按鍵可承受20萬次按壓，側(cè)鍵可承受5萬次按壓的標(biāo)準(zhǔn)。

載重測試
為了模仿用戶日常真實使用，實驗室中還配備了載重測試裝備， 可以模仿手機放在褲兜中用戶坐下或蹲下時手機受到的擠壓，軟載重測試會對產(chǎn)品橫向和豎向正反面用25kgf各按壓500次檢驗其軟載重性能。

扭曲測試

zui有意思的當(dāng)屬扭曲測試，設(shè)備會將產(chǎn)品豎立夾住然后左右進行扭曲，經(jīng)過測試的產(chǎn)品可以能承受1.03N.m的500次反復(fù)扭曲，確保手機無器件干涉無結(jié)構(gòu)變形，有效保障了在無意識扭曲下華為手機仍能正常工作。

屏幕可靠性測試
*屏幕是手機zui脆弱的部分，華為也對該部分進行可靠性測試，測試使用130g鋼珠從5cm高度沖擊屏幕5個點和彈簧錘用0.2J的能量沖擊屏幕5個點，以驗證屏幕玻璃強度是否足夠以及觸摸屏和LCD的間距是否安全。
對于屏幕還將進行拉拔測試，用50N的力對手機屏幕進行拉拔來驗證觸摸屏貼合的粘性和強度是否足夠，確保用戶使用過程中不會出現(xiàn)脫落。

端口耐久測試
手機中的數(shù)據(jù)接口以及耳機接口也是日常易損部分，華為可靠性實驗室中也有專門針對鏈接接口耐久性測試，設(shè)備會對華為手機數(shù)據(jù)接口和耳機接口進行反復(fù)拔插，保障華為產(chǎn)品USB端口可以承受10000次插拔、耳機端口可以承受5000次插拔，另外還對數(shù)據(jù)線接口處進行左右施加1kgf壓力，正、反各2000次，zui大限度保障接口使用的可靠性。
在進行如上測試的前后，還會對產(chǎn)品進行各項功能檢查以保障每款產(chǎn)品的可靠性，這就需要一臺針對華為定制的自動功能檢查設(shè)備，該設(shè)備完成一臺手機檢查僅需一分鐘即可，在提率的同時也避免了人為因素確保測試一致性。

環(huán)境氣候?qū)嶒炇?br />除了進行機械性的可靠性測試外，華為還擁有宏展環(huán)境氣候?qū)嶒炇?，該實驗室以模擬自然界中可能出現(xiàn)的各種的氣候現(xiàn)象，考驗產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性及可靠性。
目前實驗室中有18臺溫箱，zui大的溫箱測試空間為17立方米，溫變zui快可達(dá)每分鐘降溫60度，大部分溫箱的溫度測試范圍可以達(dá)到-70攝氏度~100攝氏度，濕度范圍為0-95%，能夠全面完成對外界特殊環(huán)境的穩(wěn)定性測試。

手機輻射檢測
除了手機可靠性外，用戶應(yīng)該更加關(guān)心手機輻射方面問題，手機輻射會對用戶身體帶來一定傷害*。
因此，華為對手機輻射檢測建立了手機實驗室，在測試區(qū)主要擁有測試機器人、精密測試探頭、數(shù)據(jù)采集中心、人體模型、測試模擬組織液、模擬基站以及測試固定臺等組成。
測試中手機會放置在裝有模擬液體的模型中，并檢測輻射信號并由控制區(qū)服務(wù)器處理。
華為每款手機都會經(jīng)過上百次檢測，采用的標(biāo)準(zhǔn)比美國的要求更加嚴(yán)格。

音頻測試
通話是對于手機zui基本的要求，隨著手機的發(fā)展通話質(zhì)量也在不斷的提升，然而面對更多的用戶需要在嘈雜的環(huán)境中使用，并要求更高的通話質(zhì)量的時候，對于手機廠商是個巨大考驗。
華為為了提升多重環(huán)境下的通話質(zhì)量，為此擁有自己的音頻實驗室，這里擁有音頻分析系統(tǒng)，可以模擬用戶多種通話姿勢和常見確保用戶在任何環(huán)境和姿勢下?lián)碛懈玫耐ㄔ掦w驗。