MX4R 微分干涉顯微鏡 爆破粒子檢測顯微鏡

MX4R金相顯微鏡采用靈活的系統(tǒng)組合、的成像性能、穩(wěn)定的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，MX4R系列專業(yè)應用于工業(yè)檢測及金相分析領域，各操作機構(gòu)根據(jù)人機工程學設計，大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設計，可對系統(tǒng)功能進行自由組合。集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據(jù)實際應用，進行功能選擇。全新采用半復消技術(shù)，集明場、斜照明、偏光等多種觀察方式，任何觀察模式下都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像，可根據(jù)實際應用，進行功能選擇，是工業(yè)檢測的有效工具。

性能特點

1）MX4R系列為全新型FPD檢查顯微鏡，專為LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查

2）MX4R系列機型采用4寸、6寸平臺設計，可適用于相應尺寸的晶圓或小尺寸樣品的金相檢查   

3）MX4R系列，其微分干涉效果可與進口品牌相媲美 

4）MX4R系列機型采用全新設計的長工作距物鏡、半復消色差技術(shù)，采用長壽命LED光源

5）多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察

■ 采用無限遠色差校正光學系統(tǒng)
■ 長工作距、明暗場兩用平場消色差物鏡，成像清晰、像面平坦
■ 配備反射式柯拉照明系統(tǒng)，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明
■ 正像三通觀察筒，30°傾斜，極大的提高了觀察的舒適性與操作的適應性
■ 配備了4寸帶離合器的機械平臺230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移動
■ 良好的人機工程學設計，高剛性鏡筒，“Y”型底座，調(diào)焦機構(gòu)采用前置式操作控制
■ 光源采用寬電壓數(shù)字調(diào)光技術(shù)，具有光強調(diào)定與復位功能
■ 可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件，拓展應用領域









★ 可選配6英寸三層機械移動平臺，平臺面積445×240mm，行程158×158mm；玻璃載物臺板，透反兩用平臺；
★ 可選配標準微分干涉（DIC）裝置、OLYMPUS微分干涉（DIC）裝置