DR3 數(shù)據(jù)眼圖測(cè)試-快速檢查信號(hào)質(zhì)量

工程師要快速檢查信號(hào)質(zhì)量，眼圖測(cè)試有助于在極短時(shí)間內(nèi)獲悉信號(hào)完整性狀況。

測(cè)試 DDR 接口信號(hào)質(zhì)量時(shí)，數(shù)據(jù)眼圖分析有助于揭示潛在的信號(hào)完整性問(wèn)題。因此，許多信號(hào)完整性工程師都使用眼圖功能迅速測(cè)定 DDR 接口性能。雖然一致性測(cè)試能夠根據(jù) JEDEC 規(guī)范驗(yàn)證數(shù)據(jù)、地址、控制和時(shí)鐘信號(hào)組的信號(hào)特性，但無(wú)法靈活、迅速地調(diào)試信號(hào)完整性問(wèn)題。眼圖測(cè)試的主要挑戰(zhàn)包括需要分離讀/寫周期，以及重疊數(shù)據(jù)突發(fā)的連續(xù)位，以便根據(jù)簡(jiǎn)單模板進(jìn)行測(cè)試。

一個(gè)突發(fā)長(zhǎng)度內(nèi) DQ 眼圖與單位間隔重疊

R&S RTx-K91 DDR3 信號(hào)完整性和一致性測(cè)試軟件選件提供全面的 DDR3 一致性測(cè)試軟件，其中包括 DDR 眼圖功能以調(diào)試信號(hào)完整性問(wèn)題。
   該選件還能夠使用數(shù)據(jù)、選通相位差以及信號(hào)電平解碼讀/寫突發(fā)，從而識(shí)別讀/寫突發(fā)。

DDR 眼圖

不同于多種其他高速接口，JEDEC DDR3 規(guī)范不需要進(jìn)行眼圖測(cè)試；它可用于驗(yàn)證信號(hào)質(zhì)量，但不提供任何模板信息。DDR 讀/寫數(shù)據(jù)突發(fā)包括一個(gè)前置位，如果僅使用 DQS 選通校正定時(shí)，則該前置位會(huì)導(dǎo)致難以簡(jiǎn)單創(chuàng)建眼圖。

R&S RTx-K91 選件還使用 DQS 上升沿和下降沿來(lái)校正 DQ 信號(hào)的不同轉(zhuǎn)換，但會(huì)在數(shù)據(jù)突發(fā)之前智能地省略前置位，以便生成適用于測(cè)試的眼圖。模板測(cè)試和限制

可以根據(jù) JEDEC 規(guī)范定義 DDR3 模板：數(shù)據(jù)設(shè)置 (tDS) 和保持時(shí)間 (tHD) 定義眼圖寬度；壓擺率以及輸入和輸出電壓電平定義垂直眼圖張開程度。這種模板構(gòu)建方法可用于快速測(cè)試信號(hào)完整性。注意，在 DDR3 規(guī)范中，信號(hào)定時(shí)和電平要求取決于實(shí)際信號(hào)壓擺率以及所選參考電平和數(shù)據(jù)率。因此，用戶將需要定義符合設(shè)備特性的模板，并進(jìn)行正確配置。

DDR3 眼圖模板定義示例

R&S RTO 和 R&S RTP 示波器標(biāo)準(zhǔn)模板測(cè)試功能可與 R&S RTx-K91 DDR3 眼圖工具結(jié)合使用。用戶可以定義所需模板配置文件，并保存以用于后續(xù)測(cè)試。通過(guò)波形指示模板違規(guī)情況（眼紋功能），并可以根據(jù) UI 序列制成表格。用戶可以專注于各個(gè)違規(guī)事件，以便進(jìn)一步分析和調(diào)試信號(hào)完整性問(wèn)題。

選通突發(fā)的 R&S RTP-K91 眼圖模板測(cè)試

分離讀/寫突發(fā)

評(píng)估 DQ/DQS 相位、在命令總線上使用 MSO 邏輯探頭以及區(qū)域觸發(fā)等高級(jí)觸發(fā)方法有助于區(qū)分讀/寫周期。但是，如果僅使用觸發(fā)方法捕獲信號(hào)，將難以發(fā)現(xiàn)該觸發(fā)條件中未定義的其他信號(hào)異常問(wèn)題。因此，R&S RTx-K91 選件提供解碼功能，可區(qū)分所捕獲波形中的所有讀/寫周期。

使用 DQ 和 DQS 測(cè)定讀/寫突發(fā)

解碼功能能夠僅依據(jù) DQ 和 DQS 相位關(guān)系以及閾值遲滯更加簡(jiǎn)單地識(shí)別讀/寫突發(fā)，無(wú)需探測(cè)其他控制信號(hào)。用戶捕獲較長(zhǎng)時(shí)間的 DQ 突發(fā)，以便創(chuàng)建寫眼圖和/或只讀眼圖以進(jìn)行測(cè)試。建立眼圖之后，可以使用模板測(cè)試、直方圖和自動(dòng)眼圖測(cè)量等分析工具。

顯示模板測(cè)試指示違規(guī)區(qū)域的寫周期測(cè)試

在 DRAM DDR3 接口測(cè)試中，一致性測(cè)試可根據(jù) JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行互操作性基準(zhǔn)測(cè)量。調(diào)試信號(hào)完整性問(wèn)題時(shí)，需要使用模板測(cè)試、眼圖工具和讀/寫周期分離等功能與工具協(xié)助進(jìn)行分析。R&S RTx-K91 選件可提供全面的一致性和調(diào)試功能以進(jìn)行 DDR3 測(cè)試。

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