電子天平的日校要做幾個(gè)點(diǎn)、各幾次稱量

電子天平的日校要做幾個(gè)點(diǎn)、各幾次稱量？

    再次強(qiáng)調(diào)日校的目的不是考查準(zhǔn)確性，而是考查天平是否發(fā)生了漂移，所以所謂多點(diǎn)的日校是沒有意義的。理想狀態(tài)下，就是砝碼重量與測(cè)量值的函數(shù)呈一條斜率為1的直線，只不過是不經(jīng)過原點(diǎn)，這個(gè)截距就是天平的漂移值，也就是線跑偏了。

    日校也不是做精密度，所以也沒有必要做那么多次，但為了發(fā)現(xiàn)問題，三次稱量是有必要的。

日校要做四角嗎？

這部分工作在確認(rèn)時(shí)作一般就可以了，除非有異常發(fā)生。相信不會(huì)有人在使用天平時(shí)，可著一個(gè)角去“造"。

日校砝碼的選擇和砝碼的計(jì)數(shù)？

日校砝碼應(yīng)選擇合適精度的砝碼，以確保其精度和不確定度不影響天平的日校。一般萬分之一及更高精度的天平宜選擇E2級(jí)砝碼，千分之一到克級(jí)天平可選擇F1到F2級(jí)砝碼，生產(chǎn)系統(tǒng)可使用M級(jí)砝碼。

砝碼宜選擇日常經(jīng)常稱量的重量，如果你一定要有個(gè)范圍的話，可以使用日常的大和小重量。

而對(duì)于砝碼是按標(biāo)示值去計(jì)，還是按照檢定值去計(jì)，可以說使用檢定值一定是沒有問題的，但在砝碼大允許誤差遠(yuǎn)小于日校范圍時(shí)，則沒有必要使用檢定值了，標(biāo)示值則更利于計(jì)算和判定。

日校和校準(zhǔn)哪個(gè)在先？

有個(gè)錯(cuò)誤的操作是，有人在做日校時(shí)，首先進(jìn)行了校準(zhǔn)。那么他的大問題是，他可能會(huì)掩蓋了兩次日校之間天平已經(jīng)發(fā)生了偏離的可能性。所以正確的操作是，只有當(dāng)系統(tǒng)發(fā)生了偏離，且這個(gè)偏離是你所不希望的（不是不可接受的），這時(shí)你就要做校準(zhǔn)了，校準(zhǔn)之后再重新做日校。