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電解涂層測厚儀說明書

來源:馬鞍山德宏儀器   2011年07月21日 09:29  

若有不明之處,可致電馬鞍山德宏儀器,,我公司有步驟指導(dǎo)視頻提供,歡迎廣大客戶。

 

注意:測厚儀必須在關(guān)機(jī)狀態(tài)下,才能用串行口連接線將測厚儀與電腦連接起來。嚴(yán)禁在測厚儀開機(jī)狀態(tài)下進(jìn)行連接線的接插連接。

 

一、概述

本軟件是為HQT-IA型多功能電解測厚儀配套的在普通電腦上的操作界面軟件,主要目的是讓使用HQT-IA型電解測厚儀的客戶能將測厚儀測試得到的數(shù)據(jù)即時地傳輸?shù)狡胀娔X上,并通過電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)的保存、分析、測試報告的打印等工作,帶有多層鎳電位差測試功能的電解測厚儀,不但可通過此軟件在普通電腦上將測厚儀測試時得到的電位差曲線同步繪制出,還可對電位差曲線進(jìn)行分析并保存曲線及分析結(jié)果。

二、使用前須知

安裝本軟件的電腦配置的要求:CPU為奔騰3以上。

并要求電腦上預(yù)裝Windows XP 以及 Microsoft  Access軟件。

 

三、本軟件的安裝順序:

打開軟件安裝光盤不通        點(diǎn)擊            點(diǎn)擊   

安裝本軟件。安裝完畢后,會在桌面上自動生成HQT測試系統(tǒng)的快捷鍵圖標(biāo)

注意: 內(nèi)除 以外的其他圖標(biāo)請不要隨意點(diǎn)擊。隨意點(diǎn)擊,修改其他圖標(biāo)內(nèi)的內(nèi)容可能會導(dǎo)致系統(tǒng)無法正常工作,或?qū)е乱驯4娴臏y試數(shù)據(jù)丟失。

 

四、軟件的使用。

1)      系統(tǒng)的設(shè)置

點(diǎn)擊桌面上的HQT測試系統(tǒng)的快捷鍵圖標(biāo),桌面上會彈出用戶登錄窗,輸入密碼123后,按確認(rèn)后系統(tǒng)會彈出如下窗口。

 

點(diǎn)擊“系統(tǒng)設(shè)置”后,會出現(xiàn)“機(jī)器設(shè)置”,點(diǎn)擊“機(jī)器設(shè)置”后,會彈出如下窗口:           

如儀器的連接線連接在電腦的1號串口則串口號選擇Com1,如連接在電腦的2號串口選擇Com2,波特率請選擇9600。設(shè)置完畢后,關(guān)閉上述窗口。隨后點(diǎn)擊  后,并點(diǎn)擊 會彈出如下窗口。

 

點(diǎn)擊上述窗口內(nèi)的下方一排按鈕中的 會彈出如下窗口:

可在相應(yīng)的框內(nèi)輸入相關(guān)的基本信息,輸入完畢后按“保存修改”。

2)      普通厚度測量:

現(xiàn)在即可操作測厚儀,測量鍍層的厚度,當(dāng)在測厚儀上,選擇完了速度、品種、系數(shù)并按了執(zhí)行鍵后,測厚儀開始工作,此時電腦界面上顯示的厚度數(shù)值與測厚儀上顯示的厚度數(shù)值會同步翻滾直到自動停止,翻滾停止幾秒鐘后會出現(xiàn)如下提示框:

                 

按了“確定”鍵后,測量結(jié)果及已設(shè)置的相關(guān)基本信息會自動保存在“列表信息”的一行內(nèi)隨后即可進(jìn)行下一次的測量。                                                                                         

3)      多層鎳電位差測量及分析:

當(dāng)在測厚儀上選擇了“測量”鍵      “快速”鍵      E”鍵,并輸入系數(shù),按了執(zhí)行鍵后,測厚儀開始工作。電腦界面上顯示的厚度數(shù)值與測厚儀上顯示的厚度數(shù)值會同步翻滾,同時在電腦上由X軸表示厚度,Y軸表示電位差所構(gòu)成的坐標(biāo)內(nèi)會同步繪制出曲線,如下圖所示:

 

在測厚儀上按“清除”鍵停止測量后,電腦上的數(shù)字顯示及曲線繪制同時停止,幾秒鐘后會出現(xiàn)     的提示框,按了“確定”鍵后,測量結(jié)果及曲線及已設(shè)置的相關(guān)信息會自動保存在“列表信息” 內(nèi),如需再次查看曲線圖等詳細(xì)信息,只需點(diǎn)擊 ,在列表內(nèi)選中要查看的此條記錄并點(diǎn)擊 圖標(biāo),界面即會切換至此條記錄的“詳細(xì)信息” 界面。在“詳細(xì)信息” 界面上即可對電位差曲線進(jìn)行分析。

例如:對如下圖形的多層鎳電位差曲線進(jìn)行分析時,首先點(diǎn)擊在“詳細(xì)信息”界面的下方的 按鈕。然后按如下步驟:

點(diǎn)擊        點(diǎn)擊  然后將光標(biāo)移到坐標(biāo)曲線上,在坐標(biāo)曲線上會出現(xiàn)一根紅色的豎線,通過光標(biāo)的左右移動,可控制紅色豎線的左右移動。此時將紅色豎線移到和Y軸重疊,使“X起始”圖標(biāo)的框內(nèi)為0,然后點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)的左鍵固定此紅線的位置。

點(diǎn)擊 然后將光標(biāo)移到坐標(biāo)曲線上,在坐標(biāo)曲線上會出現(xiàn)一根綠色的豎線,通過光標(biāo)的左右移動,可控制綠色豎線的左右移動。在綠線到如下圖所示的設(shè)置時,點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)的左鍵,固定此綠線的位置。此時,紅綠線之間的在X軸方向上的差值即

為光亮鎳厚度值, 厚度值會如下圖所示自動在 圖標(biāo)框內(nèi)生成。

點(diǎn)擊 后,依相同的操作步驟,可得出如下圖所示的高硫鎳厚度的值。

點(diǎn)擊 后,依相同的操作步驟,可得出如下圖所示的半光亮鎳的厚度的值。

以上是對多層鎳各層厚度的分析,接下去要對多層鎳各層間的電位差進(jìn)行分析,具體步驟如下:

點(diǎn)擊      點(diǎn)擊       然后將光標(biāo)移到坐標(biāo)曲線上,在坐標(biāo)曲線上會出現(xiàn)一根紅色橫線,通過光標(biāo)的上下移動,可控制紅色橫線的上下移動,此時點(diǎn)擊鼠標(biāo)左鍵一下,將紅色橫線在如下圖位置固定

點(diǎn)擊       然后將光標(biāo)移動坐標(biāo)曲線上,在坐標(biāo)曲線上會出現(xiàn)一根綠色橫線,通過坐標(biāo)的上下移動,可控制綠色橫線的上下移動,此時點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)左鍵,將綠色橫線在如下圖位置固定,此時紅綠線之間的在Y軸方向上的差值,即高硫鎳與光亮鎳間的電位差值會自動在 圖標(biāo)框內(nèi)生成。

點(diǎn)擊 后,依相同的操作步驟,可得出如下圖所示的光亮與半光亮鎳間電位差值。

 

點(diǎn)擊 后,依相同的操作順序,可得出如下圖所示的總電位差的值。

 

厚度與電位差分析全部完成后,先點(diǎn)擊  將紅綠線清除,然后點(diǎn)擊 ,     

界面上會出 的提示框,請按確定,對分析結(jié)果加以保存 。

 

“詳細(xì)信息” 和“列表信息”之間的互相切換,只需點(diǎn)擊電腦界面左上方的 即可實現(xiàn)。

 

列表信息如下圖所示,表內(nèi)每一條記錄即每一行是每一次測量的結(jié)果及測量時設(shè)置的基本信息、測量時間等內(nèi)容。

 

4)      報告的打印:

在列表信息的界面下,點(diǎn)擊一下(除多層鎳以外)要打印的某一條記錄    

點(diǎn)擊  后會彈出如下對話框

選擇所需的產(chǎn)品批號及零件編號,點(diǎn)擊一下后會出現(xiàn)該產(chǎn)品批號及零件編號下的每次測量的時間,選擇要打印的記錄的測量時間,在前面口內(nèi)點(diǎn)擊一下打上勾,如下圖所示:

點(diǎn)擊“確定”后,如果所選擇的要打印的幾次測量結(jié)果的鍍層品種是不同品種,則如下圖所示打印報告上只自動生成這幾次測量的結(jié)果。

如果所選擇的要打印的幾次結(jié)果的鍍層品種是一種,即在打印報告上會自動生成這幾次測量的結(jié)果,并自動生成這幾次測量結(jié)果的平均值。

 

 

需打印報告時,在打印報告界面上選擇“打印”。需保存該份報告時,選擇保存。普通鍍層報告,將以Excel形式被保存。

 

5)      其他功能鍵的介紹:

在整個測試系統(tǒng)的下方有一排功能鍵:

 

      點(diǎn)擊此鍵后,界面會切換到*條記錄。   

      點(diǎn)擊此鍵后,界面會切換到前一條記錄。

      點(diǎn)擊此鍵后,界面會切換到后一條記錄。

      點(diǎn)擊此鍵后,界面會切換到zui后一條記。

       點(diǎn)擊此鍵后,可添加一條記錄。

      點(diǎn)擊此鍵后,可刪除一條記錄。

點(diǎn)擊此鍵后,對當(dāng)前的這一條記錄打上標(biāo)記

     點(diǎn)擊此鍵后,可迅速返回到打上標(biāo)記的那條記錄。

      點(diǎn)擊此鍵后,可按測量時間查找到所要找的記錄。

 點(diǎn)擊瀏覽鍵后,可恢復(fù)到全部記錄都可按時序排列的狀態(tài)。     

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