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超聲相控陣及TOFD方法檢測小徑管焊縫質(zhì)量

來源:艾因蒂克科技(上海)有限公司   2020年05月12日 14:35  

超聲相控陣及TOFD方法檢測小徑管焊縫質(zhì)量

 

小徑管和管道的檢查是很困難的。挑戰(zhàn)包括這樣一個事實:管道到管道的間隙通常非常??;對管道的掃查僅限于一側(cè);壁厚和直徑相當小,使得通用的相控陣(PA)探頭無法使用。由于探頭和掃查架的尺寸,射線成像通常比相控陣和常規(guī)超聲方法更好。

相控陣在檢測小直徑管和管道時比射線照相有幾個優(yōu)點。通常,需要進行一系列連續(xù)的檢查,因此所使用的系統(tǒng)必須能夠提供可重復的結(jié)果一次又一次的檢查。

小直徑的管道和管道檢查系統(tǒng)也必須快速和能夠快速地從一個檢查區(qū)域轉(zhuǎn)移到下一個檢查區(qū)域。對奧林巴斯COBRA掃查架進行了優(yōu)化,以克服傳統(tǒng)相控陣檢查小直徑管和管的局限性,其特點包括:

  • 超薄的掃查架,相控陣探頭和楔塊可以*覆蓋管道,因為只有一個小的管道到管道的間隙才能執(zhí)行360°掃描。

  • 掃查架使用彈簧機構(gòu)附著在管道或管子上,即使只有一側(cè)的管道或管子也能覆蓋360°。

解決方案

COBRA掃查架的相控陣解決方案為小口徑管道和管的檢測提供了一個快速、實用的系統(tǒng)。通過使用超聲波技術(shù),用戶可以避免與射線照相檢查相關(guān)的固有困難和缺點,如安全問題、監(jiān)管問題、技術(shù)速度慢以及在檢測過程中需要將人們排除在檢查區(qū)域之外。

奧林巴斯‘80°TOFD楔形進一步增強了COBRA解決方案的能力。在保留上述COBRA掃查架優(yōu)點的同時,TOFD技術(shù)對小直徑管道中的體積缺陷非常敏感,是一種成本效益高的解決方案。

使用80°COBRA楔塊和15 MHz探頭對一根5毫米厚的管道進行TOFD檢查的掃描計劃。

眼鏡蛇TOFD楔塊和探頭裝配在掃查架和零件上。

TOFD是一種久負盛名的技術(shù),在一般的焊接檢驗中有著悠久的歷史。事實證明,它是一種快速且易于部署的方法,具有良好的尺寸調(diào)整能力。TOFD用于檢測和尺寸測量的內(nèi)在優(yōu)點之一是它對缺陷的取向相對漠不關(guān)心,因為它主要使用衍射能量和反射能量。

超聲波探頭位于焊縫的兩側(cè),一個探頭將超聲信號發(fā)送到材料中,另一個探頭接收來自不連續(xù)性和幾何反射器的反射和衍射超聲。TOFD利用超聲聲束在楔塊和被檢測材料內(nèi)部的傳播理論,提供了一束寬范圍的單束覆蓋。當超聲信號與裂紋接觸時,衍射能會向各個方向投射。測量衍射光束的飛行時間,即使裂紋偏離初始光束方向,也能準確可靠地檢測和確定尺寸。

COBRA TOFD楔塊包括一對平面楔形和9對彎曲楔形,用于覆蓋OD范圍為1.05 in的管道。到4.5英寸。楔形的設計適用于直徑為3mm的ST1探頭。請注意,與相控陣選項相比,使用這些楔塊將增加使用COBRA掃描儀所需的小間隙。

用光標定位于干凈區(qū)域的焊縫掃描;A掃描顯示良好的橫向波和后壁信號,兩者之間沒有任何跡象。

焊縫掃描,光標定位在不連續(xù)處;A掃描顯示橫向波和后壁之間的信號。
 

所用設備:

  • 相控陣探傷儀 OmniScan X3/Omniscan MX 2/SX探傷儀

  • 眼鏡蛇溶液工具包(U 8750053,COBRA管道檢查掃描儀(不包括探針和楔形))

  • 15 MHz TOFD探頭

  • ST1-80L楔形組件用于COBRA掃查架,1.05英寸。到4.5英寸。OD管(COBRA-A-ST1-80L,U 8710172)

  • 噴霧器-4L或其他適當?shù)鸟詈掀鬏斔?U 8775153)

  •  OmniPC™/NDTSetupBuilder/TomoView™軟件(可選掃描計劃和分析軟件程序)

結(jié)語:

COBRA掃查架利用TOFD技術(shù)提供了一種成本效益高、效率高、可靠的測試方法,能夠應對與檢測小直徑管道和管道有關(guān)的挑戰(zhàn)。當與Omniscan SX UT探傷儀配對時,終的結(jié)果是一種方便地以電子格式存儲的全面的檢查記錄,可以隨時重新打開和分析。隨著時間的推移,可以對檢查期間遇到的不連續(xù)性的演變進行監(jiān)測,使檢查員能夠確定預防性維修的趨勢和計劃。

雖然射線照相技術(shù)是目前應用廣泛的技術(shù),但本文討論的超聲技術(shù)在安全性、檢測概率和檢測速度等方面都具有許多優(yōu)勢。

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光譜分析儀(Vanta手持式XRF分析儀、DELTA Professional合金分析儀、DELTA Element分析儀)

工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡(EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS)、法國EFER紫外熒光內(nèi)窺鏡、磁粉探傷機、反差增強劑,滲透劑等磁粉滲透設備。

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