Taylor Hobson CCIMP白光干涉應(yīng)用領(lǐng)域

來(lái)源：篤摯儀器（上海）有限公司 2020年10月09日 13:43

許多用戶(hù)依靠CCIMP解決其他儀器*無(wú)法處理的測(cè)量問(wèn)題。憑借出色的量程、很高的分辨率以及操作簡(jiǎn)便的優(yōu)勢(shì)，成為在眾多應(yīng)用場(chǎng)合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具。

●材料研究
●軸承粗糙度
●拋光光學(xué)器件
●織紋鋼
●金剛石車(chē)削
●汽車(chē)噴油器
●表面結(jié)構(gòu)

●SIMS凹面
●晶圓粗糙度
●晶圓蝕刻深度
●太陽(yáng)能電池.

●醫(yī)療植入物
●密封面
●曲軸加工
●儲(chǔ)油率(軸承)
●紙/碳粉
●手機(jī)耳機(jī)
●牙齒磨損.

●LED
MEMS
●數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

應(yīng)用實(shí)例：

醫(yī)療填充物

汽車(chē)行業(yè)

太陽(yáng)能當(dāng)

相關(guān)產(chǎn)品

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