日本PHL公司雙折射（應(yīng)力）測量儀原理及特點(diǎn)

透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射，晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。

　　日本PHL公司應(yīng)力雙折射儀的原理：   
    
     當(dāng)光穿透具有雙折射特性的透明物質(zhì)時，光的偏光狀態(tài)會產(chǎn)生變化。換句話說，比較光穿透物體前之后的偏光狀態(tài)，即可評估物質(zhì)的雙折射。該設(shè)備裝配的偏光感應(yīng)器，使用了日本PHL公司*的光子晶體技術(shù)組裝而成的偏光感應(yīng)器，能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件，能將雙折射分布數(shù)據(jù)定量化，變成可以分析的資料。

用途：
        應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標(biāo)的檢驗(yàn)方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

　　日本PHL公司應(yīng)力雙折射儀系統(tǒng)特點(diǎn)：

　　1、操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進(jìn)行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布。

　　2、2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。

　　3、大相位差測試能力：通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。