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xrd衍射儀利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內(nèi)部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等。
xrd衍射儀是采用輻射探測器和測角儀來記錄衍射峰位置及強度的分析儀器。常用的衍射儀X射線衍射儀主要由X射線發(fā)生器、衍射測角儀、輻射探測器、測量電路、控制操作和運行軟件的電子計算機系統(tǒng)組成，核心部件是測角儀。XRD衍射儀擁有對樣品的破壞性微小、檢測快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點，冶金、機械、地質(zhì)、化工、礦物、陶瓷、建材、耐火材料、天航空、能源、生物工程等諸多領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。
xrd衍射儀在使用時的注意事項：
（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面須平整，可以用幾塊粘貼一起。
（2）對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。
（3）對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力，測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。
（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
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