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xrd衍射儀利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過(guò)處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來(lái)看晶體內(nèi)部是否存在缺陷（位錯(cuò)）和晶格缺陷等。
xrd衍射儀是采用輻射探測(cè)器和測(cè)角儀來(lái)記錄衍射峰位置及強(qiáng)度的分析儀器。常用的衍射儀X射線衍射儀主要由X射線發(fā)生器、衍射測(cè)角儀、輻射探測(cè)器、測(cè)量電路、控制操作和運(yùn)行軟件的電子計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成，核心部件是測(cè)角儀。XRD衍射儀擁有對(duì)樣品的破壞性微小、檢測(cè)快速、操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)，冶金、機(jī)械、地質(zhì)、化工、礦物、陶瓷、建材、耐火材料、天航空、能源、生物工程等諸多領(lǐng)域都得到了廣泛應(yīng)用。
xrd衍射儀在使用時(shí)的注意事項(xiàng)：
（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面須平整，可以用幾塊粘貼一起。
（2）對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。
（3）對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力，測(cè)量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。
（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
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