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射線探傷常見缺陷——裂紋類缺陷

來(lái)源:濟(jì)寧儒佳檢測(cè)儀器有限公司   2021年06月25日 17:00  

射線探傷的基本原理如下:

當(dāng)強(qiáng)度均勻的射線束透照射物體時(shí),如果物體局部區(qū)域存在缺陷或結(jié)構(gòu)存在差異,它將改變物體對(duì)射線的衰減,使得不同部位透射射線強(qiáng)度不同,這樣,采用一定的檢測(cè)器(例如,射線照相中采用膠片)檢測(cè)透射射線強(qiáng)度,就可以判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布等。射線探傷常用的方法有X射線探傷、γ射線探傷、高能射線探傷和中子射線探傷。對(duì)于常用的工業(yè)射線探傷來(lái)說(shuō),一般使用的是X射線探傷、γ射線探傷。

裂紋Cracks

定義:裂紋是指材料局部斷裂形成的缺陷。

影像特征:底片上裂紋和典型影像是輪廓分明的黑線或黑絲。

其細(xì)節(jié)特征包括:黑線或黑絲上有微小的鋸齒,有分叉,粗細(xì)和黑度有時(shí)有變化,有些裂紋影像呈較粗的黑線與較細(xì)的黑絲相互纏繞狀;線的端部尖細(xì),端頭前方有時(shí)有絲狀陰影延伸。

 

接下來(lái)小編就帶您看看一些已經(jīng)拍完的膠片上具體的裂紋類缺陷

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