進口QNix8500涂層測厚儀可配多種探頭,精準(zhǔn)測量
技術(shù)參數(shù):
基 體 | Fe、NFe、NFe\NFe |
探頭形式 | 一體、有線分體、無線分體 |
顯 示 | LCD液 晶 顯 示 |
測量范圍 | 0-2000μm |
測量精度 | 0-2000μm: ≤±2% |
*小基體 | Fe:10mm×10mm NFe:6mm×6mm |
*薄基體 | Fe:0.2mm NFe:0.05mm |
*小曲率 | 凸半徑:5mm 凹半徑:30mm |
儲存溫度 | -10℃ --- 60℃ |
溫度補償范圍 | 0℃ --- 60℃ |
電 源 | 2節(jié)1.5V干電池 |
尺 寸 | 124mm×67mm×33mm |
重 量 | 120g(含電池及探頭) |
存 儲 | 一個數(shù)據(jù)組,30000個測量值 |
數(shù)據(jù)傳輸 | 通過USB模塊和電腦無線傳輸 |
統(tǒng)計功能 | 平均值,*大值,*小值,標(biāo)準(zhǔn)偏差 |
產(chǎn)品優(yōu)點:
*只需調(diào)零,無需校準(zhǔn)
*測量精度高
*一體分體通用
*可配多種探頭
*中英文菜單操作
*智能化
*帶存儲,并可連計算機對數(shù)據(jù)進行處理分析
*可連接薄鍍層探頭,對極薄的鍍層厚度測量,誤差小于±3um
可選探頭:
Fe鐵基探頭: 0-2000μm 0-5000μm
NFe非鐵基探頭: 0-2000μm 0-5000μm
NFe/Fe兩用探頭:0-2000μm 0-5000μm
無線傳輸探頭
薄鍍層探頭
QNix8500涂層測厚儀
Der QNix® 8500 ist unser modulares Schichtdickenmessger?t mit Messwert-speicher, Statistikfunktionen, Softwareauswertung und austauschbaren Sonden. Es eignet sich für nahezu jedes Anwendungsgebiet der Schichtdicken-messung und ist sehr robust. Als QNix®-Anwender profitieren Sie zudem von der einfachen Bedienung – und selbstverst?ndlich von pr?zisen und schnellen Messergebnissen.
Ihre Anforderungen
Ben?tigen Sie ein flexibles Schichtdickenmessger?t mit dem Sie unterschiedliche Schichtdickenmessungen durchführen – und das Sie auch nachtr?glich an unterschiedliche Aufgaben anpassen k?nnen? Sie m?chten im Rahmen interner Qualit?tssicherung oder aufgrund von Kundenvorgaben die gemessene Schichtdicke langfristig nachvollziehbar dokumentieren?
Dann ist der QNix® 8500 für Messungen auf Stahl, Eisen (Fe) und Nichteisen-metallen (NFe) wie Aluminium, Zink, Kupfer oder Messing das richtige Ger?t für Sie. Auch bei besonderen Messanforderungen unterstützt Sie der QNix® 8500 und liefert Ihnen bei einfacher Bedienung schnelle und pr?zise Messergebnisse.
Unser modulares Konzept
Das digitale Schnittstellenkonzept von QNix® macht Ihr Schichtdickenmessger?t zukunftsf?hig. Erweitern Sie Ihren QNix® 8500 durch:
Sonden mit einem gr??eren Messbereich
Sonden für andere Substratarten
Funksonden für Messungen an für Personen schwer zug?nglichen Stellen
Sonden zur Messung von dünnen Schichten
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