粒度是指對(duì)許多處于分割狀態(tài)下的微小固體、液體或氣體所組成的顆粒系中顆粒大小進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的描述方法。在人類賴依生存的自然界以及在工、農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和新材料、新工藝的科學(xué)研究中,很多的物質(zhì)都是以顆粒的形態(tài)存在。其粒徑大小的測(cè)量,對(duì)人類很好利用和保護(hù)自然,以及在工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究中對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量和性能起著重要的作用。如:河流中泥沙粒度的測(cè)量,對(duì)研究其流動(dòng)和沉積的速度起著非常重要的作用;涂料、油漆的粒度,直接影響著其涂飾效果;藥物的粒度直接影響其吸收和釋放的效率;水泥的粒度影響凝結(jié)時(shí)間及zui終的強(qiáng)度;各種礦物填料的粒度影響制品的質(zhì)量與性能等等。因此,有效地監(jiān)測(cè)與控制顆粒的粒度分布,對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低能源消耗,控制環(huán)境污染,保護(hù)人類的健康具有非常重要意義。
目前,在用于粒度測(cè)量的方法可分為以下幾大類。即:激光散射法、篩分法、沉降法、超聲波衍射法、顯微鏡法、電感應(yīng)法(庫(kù)爾特法)以及費(fèi)氏法等,它們各有自己的特點(diǎn)和應(yīng)用范圍。其中,激光散射法以其測(cè)試范圍寬、速度快、重復(fù)性好、操作簡(jiǎn)便等顯著特點(diǎn),已在粒度測(cè)試領(lǐng)域占據(jù)了主導(dǎo)地位。HYL-1076型激光粒度分布儀就是一種基于激光散射原理實(shí)現(xiàn)粒度分布測(cè)量的新型粒度儀。該系統(tǒng)由粒度儀主機(jī)、電腦、打印機(jī)等組成。通過(guò)將制備好的樣品放入主機(jī)的測(cè)量區(qū)域,激光照射到樣品后將產(chǎn)生光散射信號(hào),主機(jī)將光散射信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),通過(guò)微機(jī)接口傳輸?shù)诫娔X中,利用的粒度分析軟件對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理,就可以得到該樣品的粒度分布結(jié)果。
激光粒度分布儀采用的全程Mie散射理論,結(jié)合的H.Golub交叉迭代分布反演算法,無(wú)論您測(cè)試的樣品是單峰還是多峰的,都能夠讓您得到測(cè)試結(jié)果。在研制和開(kāi)發(fā)過(guò)程中,得到了清華大學(xué)、吉林大學(xué)、中科院沈陽(yáng)微電子研究所等十幾所高等院校和科研院所等有關(guān)人員的支持和幫助,玖久儀器對(duì)此表示衷心的感謝!
激光粒度分布儀系統(tǒng)是集光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)為一體的高科
技產(chǎn)品,數(shù)據(jù)處理有的計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)軟件完成,同時(shí)由打印機(jī)完成測(cè)試報(bào)告的輸出。
優(yōu)化的反傅立葉光學(xué)變換設(shè)計(jì),結(jié)合*的光路一體化結(jié)構(gòu),使光路更加穩(wěn)定,長(zhǎng)期使用,無(wú)須調(diào)整;先進(jìn)的機(jī)械設(shè)計(jì)與加工工藝,使儀器的結(jié)構(gòu)更緊湊合理;流線型的設(shè)計(jì),美觀大方,使用與維護(hù)更為方便;有效的屏蔽與抗干擾技術(shù),使儀器的電氣等性能更加穩(wěn)定 。
高靈敏大角度光電接收器陣列
*的光電接收器陣列設(shè)計(jì),有效提高了儀器的分辨率。主向光電接收器,共有71個(gè)光電池,zui大探測(cè)角達(dá)21.5°;
非均勻交叉排列的側(cè)向光電接收器,共5個(gè)光電池,其中,zui大側(cè)向角度達(dá)75°。
采用波長(zhǎng)635nm,功率3mw半導(dǎo)全激光器,使用壽命在25000個(gè)小時(shí)以上有效提高了激光粒度分布儀的使用和存放時(shí)間。
的H.Golub分布反演算法
激光粒度測(cè)試系統(tǒng)*采用先進(jìn)的全Mie散射理論作為基礎(chǔ),并采用優(yōu)良的H.Golub分布反演算法,結(jié)合*的儀器硬件設(shè)計(jì),使您測(cè)試的樣品無(wú)論是單分布的,還是混合的,都能夠使測(cè)試數(shù)據(jù)更加、快捷。
輸出結(jié)果格式靈活
報(bào)告單格式的輸出格式靈活,可根據(jù)使用者的需要,編輯包括累計(jì)粒度分布數(shù)據(jù)與曲線、區(qū)間粒度分布數(shù)據(jù)與直方圖和各種典型粒徑值等內(nèi)容。
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