環(huán)境試驗的目的

環(huán)境試驗的目的源于工業(yè)產(chǎn)品價值的評價，不只是機(jī)能與性能優(yōu)良與否，還要從其他各種不同的觀念作綜合評價而決定,也就是在實踐運用的嚴(yán)苛條件下，機(jī)能與性能能夠確保到什么水平，而且能夠維持到多久，假如改換零部件或進(jìn)行修理時，其難易程度，這些問題對決定優(yōu)劣占了很大的比例，而且這個比例是靈活變動的。例如，以往機(jī)器不計本錢，以制造優(yōu)良的機(jī)器為優(yōu)先考慮，如今有了改動，成本的評價基準(zhǔn)和普通工業(yè)制品一樣，已經(jīng)朝這個方向開展了?，F(xiàn)在，隨著貿(mào)易全球化，運輸、運用條件也愈加多樣化。這樣一來，對產(chǎn)品的要求條件也越來越嚴(yán)苛，可以處理這些問題的廠家才是成功者，能夠生存下去，因而對所要求的條件下如何進(jìn)步質(zhì)量、性能、信任度、低成本，成為廠家極為重要的課題。這些并不是一朝一夕能夠辦到的事情，必需將用戶的需求恰當(dāng)?shù)乃妓髦贫ǔ錾唐贩桨福軐⑺圃斐鰜淼闹圃旒夹g(shù)、能將運用資料作出或維持的資料技術(shù)，并將這些妥善運用的管理、分析技術(shù)等等，將這些集成之后才干完成出來。

    為進(jìn)一步提升可靠的手法-----環(huán)境試驗，占了非常重要的位置。說沒有環(huán)境試驗就不可能確保質(zhì)量，一點不為過。環(huán)境試驗提供了一種確定的、驗證環(huán)境影響的手腕，目的在于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在構(gòu)造設(shè)計、元器件、資料選擇以及工藝方面的缺陷，以便采取恰當(dāng)?shù)拇胧?，改良產(chǎn)品預(yù)期運用環(huán)境的順應(yīng)性；其次是審定、考核產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性，考驗?zāi)芊駶M足規(guī)范、技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或用戶的需求，并作為投產(chǎn)或批量消費接納或拒收決策的根據(jù)；再者就是為運用、維修和后勤保證提供有用的數(shù)據(jù)信息。

    歸結(jié)為電工電子產(chǎn)品可靠性試驗的目的通常有如下幾方面：

    1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價產(chǎn)品可靠性到達(dá)預(yù)定指標(biāo)的狀況；

    2.消費階段為監(jiān)控消費過程提供信息；

    3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性審定或驗收；

    4.暴露和分析產(chǎn)品在各種環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理；

    5.為改良產(chǎn)品可靠性，制訂和改善可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)