產(chǎn)品推薦:氣相|液相|光譜|質(zhì)譜|電化學(xué)|元素分析|水分測定儀|樣品前處理|試驗(yàn)機(jī)|培養(yǎng)箱


化工儀器網(wǎng)>技術(shù)中心>解決方案>正文

歡迎聯(lián)系我

有什么可以幫您? 在線咨詢

超逼真20張動(dòng)圖,秒懂四大電鏡原理

來源:邁可諾技術(shù)有限公司   2022年07月07日 11:18  

科研圈|超逼真20張動(dòng)圖,秒懂四大電鏡原理(SEM, TEM, AFM, STM)!

材料的顯微分析能獲得材料的組織結(jié)構(gòu),揭示材料基本性質(zhì)和基本規(guī)律,在材料測試技術(shù)中占重要的一環(huán)。對(duì)各種顯微分析設(shè)備諸如SEM、TEM、AFM、STM等,各位材料屆的小伙伴一定不會(huì)陌生。最近小編發(fā)現(xiàn)一些電鏡動(dòng)畫,被驚艷到,原來枯燥無味的電鏡可以變得這么生動(dòng),閑言少敘,下面就和大家一起來分享。



掃描電子顯微鏡(SEM)



掃描電鏡成像是利用細(xì)聚焦高能電子束在樣件表面激發(fā)各種物理信號(hào),如二次電子、背散射電子等,通過相應(yīng)的檢測器來檢測這些信號(hào),信號(hào)的強(qiáng)度與樣品表面形貌有一定的對(duì)應(yīng)關(guān)系,因此,可將其轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào)來調(diào)制顯像管的亮度得到樣品表面形貌的圖像。


圖片

SEM工作圖


入射電子與樣品中原子的價(jià)電子發(fā)生非彈性散射作用而損失的那部分能量(30~50eV)激發(fā)核外電子脫離原子,能量大于材料逸出功的價(jià)電子從樣品表面逸出成為真空中的自由電子,此即二次電子。


圖片

電子發(fā)射圖


圖片

二次電子探測圖


二次電子試樣表面狀態(tài)非常敏感,能有效顯示試樣表面的微觀形貌,分辨率可達(dá)5~10nm。


圖片

二次電子掃描成像


入射電子達(dá)到離核很近的地方被反射,沒有能量損失;既包括與原子核作用而形成的彈性背散射電子,又包括與樣品核外電子作用而形成的非彈性背散射電子。


圖片

背散射電子探測圖


用背反射信號(hào)進(jìn)行形貌分析時(shí),其分辨率遠(yuǎn)比二次電子低。可根據(jù)背散射電子像的亮暗程度,判別出相應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)的相對(duì)大小,由此可對(duì)金屬及其合金的顯微組織進(jìn)行成分分析。


圖片

EBSD成像過程



透射電子顯微鏡(TEM)



透射電鏡是把經(jīng)加速和聚焦的電子束投射到非常薄的樣件上,電子與樣品中的原子碰撞,而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此,可以形成明暗不同的影像,影像將在放大、聚焦后在成像器件上顯示出來。


圖片

TEM工作圖


圖片

TEM成像過程


STEM成像不同于平行電子束的TEM,它是利用聚集的電子束在樣品上掃描來完成的,與SEM不同之處在于探測器置于試樣下方,探測器接收透射電子束流或彈性散射電子束流,經(jīng)放大后在熒光屏上顯示出明場像和暗場像。


圖片

STEM分析圖


入射電子束照射試樣表面發(fā)生彈性散射,一部分電子所損失能量值是樣品中某個(gè)元素的特征值,由此獲得能量損失譜(EELS),利用EELS可以對(duì)薄試樣微區(qū)元素組成、化學(xué)鍵及電子結(jié)構(gòu)等進(jìn)行分析。


圖片

EELS原理圖


在材料測試中,樣品自身可將碳?xì)湮廴疚镆隨EM,F(xiàn)IB和TEM樣品室,長時(shí)間的電子束掃描會(huì)分解樣品室里面的潤滑油、真空油脂,造成碳?xì)湮廴?,從而?dǎo)致樣品表面形成黑色碳沉積。XPS數(shù)據(jù)顯示,在暴露在空氣中僅一小時(shí)后,干凈樣品的表面就被空氣中的碳?xì)浠衔镂廴?。不少樣品自身也?huì)引入碳?xì)湮廴尽?duì)于高分辨率FE-SEM上的低著陸能量高分辨率二次電子模式成像,二次電子主要來自很淺的表層。如果樣品表面被一層碳?xì)浠衔镂廴?,則電子信號(hào)大部分從污染層中出來。因此,碳?xì)浠衔镂廴緯?huì)降低圖像對(duì)比度和分辨率。


在材料測試前,我們需要預(yù)清洗SEM和TEM上的碳?xì)湮廴疚?,以確保其準(zhǔn)確度。可使用Tergeo-EM臺(tái)式等離子清洗機(jī)預(yù)清潔SEM和TEM。可使用空氣,Ar, O2或H2氣體以及不同比例的混合氣體在Tergeo-EM等離子體清洗機(jī)中產(chǎn)生等離子體,自由基可以有效地去除樣品表面上的碳?xì)浠衔镂廴疚铩ergeo-EM等離子清洗機(jī)是一款將浸沒模式等離子體清潔(樣品浸沒在等離子體中)和下游模式等離子體清潔(樣品放置在等離子體外)集成在一個(gè)系統(tǒng)中的TEM / SEM等離子清洗機(jī) 。Tergeo-EM等離子清洗機(jī)可滿足從高速光阻膠灰化到柔和地清洗石墨烯、碳納米管、DLC(類金剛石碳)、碳纖維、碳網(wǎng)、多孔TEM樣品,以及其他超薄涂層的樣品清洗。此外,*的脈沖模式可產(chǎn)生極短的等離子體脈沖,為精細(xì)樣品進(jìn)一步降低等離子體強(qiáng)度。獲得的等離子傳感器技術(shù)可實(shí)時(shí)監(jiān)測等離子體強(qiáng)度。它可以幫助用戶為不同類型的樣品設(shè)置正確的清潔配方。


圖片


免責(zé)聲明

  • 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
  • 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
  • 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
企業(yè)未開通此功能
詳詢客服 : 0571-87858618