可視化晶體板內(nèi)部條紋檢測技術(shù)

來源：秋山科技（東莞）有限公司 2022年08月22日 14:48

可視化晶體板內(nèi)部條紋檢測技術(shù)

該檢查裝置是一種可視化晶體板和玻璃等透明物體內(nèi)部的條紋，以及表面上的拋光不均勻和拋光痕跡的裝置。非常適合檢查低通濾光片和藍色濾光片的晶體板。

在觀察到的圖像的背景中有一個微弱的斑點圖案。這是由于安裝的透鏡等光學元件的表面拋光，并干擾觀察。專用軟件“ClearBack”使背景清晰，便于檢查。在折射率變化的可視化裝置中有一種稱為紋影法的觀察方法，但該裝置的觀察方法是陰影圖法。避免刀口干擾造成圖像模糊。

檢查方法	shadowgraph 方法，顧名思義，就是一個“陰影圖片”。從點光源發(fā)出的光被一個鏡頭準直，被下一個鏡頭會聚，然后被拍攝。這里，如果在兩個透鏡之間放置有條紋等缺陷的樣品，平行光會受到干擾，圖像會出現(xiàn)亮度不均勻的區(qū)域。
觀察范圍	約φ45mm
光源	高亮度藍色LED
測量波長	450-465nm
有效像素	1080(H)×824(V)
調(diào)光功能	音量調(diào)光
外形尺寸（本體）	水平（標準）W1030 x D160 x H205mm 垂直（可選）W380 x D455 x H1245mm
重量（身體）	29公斤
憲法	機身/PC/電纜
配件	樣品架/機身蓋
選項	立式支架（重量：10kg）
使用環(huán)境	10 至 35 攝氏度濕度 20 至 80%（非冷凝）
顯示器最大分辨率	1920 x 1200（24 英寸寬）
操作系統(tǒng)	視窗 10（64 位）
軟件	專用軟件“ClearBack” 通過校正不均勻的圖像亮度，使背景均勻，便于檢查缺陷。

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