缺陷檢測(cè)通常是指對(duì)物品表面缺陷的檢測(cè),表面缺陷檢測(cè)是采用先進(jìn)的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù),對(duì)工件表面的斑點(diǎn)、凹坑、劃痕、色差、缺損等缺陷進(jìn)行檢測(cè)。
為了滿足實(shí)際生產(chǎn)的需要,表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)具有以下適用功能:
•自動(dòng)完成工件與相機(jī)獲取圖像同步;
•自動(dòng)檢測(cè)產(chǎn)品表面斑點(diǎn)、凹坑、銅點(diǎn)、劃傷等缺陷;
•可根據(jù)需要對(duì)缺陷類(lèi)型學(xué)習(xí)并進(jìn)行命名;
•可根據(jù)需要選擇需要檢測(cè)的缺陷類(lèi)型;
•可根據(jù)需要自主設(shè)定缺陷大??;
•對(duì)不良位置進(jìn)行定位,可控制貼標(biāo)設(shè)備會(huì)打印設(shè)備進(jìn)行標(biāo)識(shí);
•對(duì)不良品圖像進(jìn)行自動(dòng)存儲(chǔ),可進(jìn)行歷史查詢(xún);
•自動(dòng)統(tǒng)計(jì)(良品、不良品、總數(shù)等);
•異常時(shí)提供聲、光報(bào)警,并可控制設(shè)備停機(jī);
•系統(tǒng)有自學(xué)習(xí)功能,且學(xué)習(xí)過(guò)程操作簡(jiǎn)單;
鋰電池表面缺陷可檢出率
缺陷一:熱縮套
缺陷描述:熱縮套邊緣破損;
檢測(cè)方案:缺陷較明顯,可以檢出;
缺陷二:雙墊片
缺陷描述: 兩只墊片;
檢測(cè)方案:條光從側(cè)面打,可以檢出雙墊片,要分2個(gè)工位進(jìn)行打光;
缺陷三:正極凹坑
缺陷描述: 正極點(diǎn)狀凹坑;
檢測(cè)方案:凹坑特征不明顯,誤判率較大;
缺陷四:殼體凹坑
缺陷描述: 電池側(cè)壁凹坑;
檢測(cè)方案:側(cè)壁包裹不平整有可能引起誤判,兼容性差;
缺陷五:熱縮套異物/起泡
缺陷描述: 電池側(cè)壁熱縮套內(nèi)有異物/起泡
檢測(cè)方案:異物起泡的特征明顯,可以檢出,穩(wěn)定性差;
缺陷六:負(fù)極焊點(diǎn)
缺陷描述: 負(fù)極焊點(diǎn);
檢測(cè)方案:就此樣品來(lái)看,可以檢出;
缺陷七:負(fù)極劃痕
缺陷描述: 負(fù)極輕微劃痕;
檢測(cè)方案:工件表面反光,無(wú)法去除干擾點(diǎn),此檢測(cè)準(zhǔn)確性較低,誤判較高;
缺陷八:負(fù)極凹坑
缺陷描述: 負(fù)極輕微凹坑;
檢測(cè)方案:表面干擾點(diǎn)多、凹坑過(guò)小,容易造成誤檢;
缺陷九:正極劃痕
缺陷描述: 正極輕微劃傷;
檢測(cè)方案:工件邊緣特征無(wú)法去除干擾點(diǎn),會(huì)對(duì)檢測(cè)效果產(chǎn)生影響,誤判較高;
3D字符識(shí)別;
FPC芯片檢測(cè);
高反光曲面缺陷檢查;
相關(guān)產(chǎn)品
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