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納米粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測(cè)試的產(chǎn)品。CPS納米粒度儀有別于傳統(tǒng)方法，通過(guò)差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案。有效地結(jié)合了高速離心沉降和激光法的優(yōu)點(diǎn)，使得整個(gè)儀器能夠達(dá)到較高的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性。
CPS納米粒度儀同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。對(duì)于只有1%的顆粒差異分布的時(shí)候，該方法測(cè)定的結(jié)果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測(cè)量終得到的是真實(shí)、可靠的顆粒分布。
和傳統(tǒng)沉降法比較，更快的分析時(shí)間。速度的優(yōu)勢(shì)是基于更快的圓盤轉(zhuǎn)速以及更快的儀器檢測(cè)器響應(yīng)。采用多階速度，分析速度可以小于通常情況下的1/20。
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