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磁粉探傷儀 CEE-I 磁粉探傷儀

來源:深圳市歐野電子有限公司   2011年08月29日 15:43  

CEE-I磁粉探傷儀

特點(diǎn):CEE-I磁粉探傷儀是小型便攜式無損檢測儀器,具有交直流兩種輸出功能。采用可控硅組成無觸點(diǎn)的電子、電路、噪音小、壽命長、體積小、重量輕、提升力大等優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)指標(biāo):
電源電壓:交流220V
輸出電壓:交流36V,直流8V
提升力:馬蹄(A型)探頭交流≥4kg 電磁軛(D型)探頭交流≥6kg 直流36kg 環(huán)型(O型)探頭交流1800TA
主機(jī)重量:5.5kg
外型尺寸:230×110×165mm
 
 
 
 
深圳歐野電子有限公司
:-28447789

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