電子器件沖擊冷熱可靠性測試方法

電子器件沖擊冷熱可靠性測試方法：

目的：

確定元件曝露于高低溫極值下，以及高低溫極值交替沖擊下所具有的抗御能力。試驗樣品的失效數(shù)應以后檢測為依據(jù)。

試樣制備：

樣品預處理:

將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定

樣品初始檢測:將被測樣品與標準要求對照，符合要求后直接放入冷熱沖擊測試儀內(nèi)準備進行測試。

樣品試驗:這個是正式的試驗，是冷熱沖擊測試儀對產(chǎn)品進行測試的重要的步驟

先，冷熱沖擊測試儀試驗樣品需要嚴格按照冷熱沖擊箱執(zhí)行標準的要求放置在試驗箱內(nèi)，并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到測試點，并保持足夠的的時間至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長度為準，其次，務必在高溫試驗箱測試完畢之后，在5分鐘內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1小時或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長度為準.再次，低溫測試箱完畢之后，在5分鐘內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70%℃的高溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1小時或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準。

后，為了保證材料高低溫冷熱沖擊測試結果的準確性，請按照以上步驟重復三周期，重復上術實驗方法。因為根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差.