電子器件沖擊冷熱可靠性測(cè)試方法

電子器件沖擊冷熱可靠性測(cè)試方法：

目的：

確定元件曝露于高低溫極值下，以及高低溫極值交替沖擊下所具有的抗御能力。試驗(yàn)樣品的失效數(shù)應(yīng)以后檢測(cè)為依據(jù)。

試樣制備：

樣品預(yù)處理:

將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定

樣品初始檢測(cè):將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照，符合要求后直接放入冷熱沖擊測(cè)試儀內(nèi)準(zhǔn)備進(jìn)行測(cè)試。

樣品試驗(yàn):這個(gè)是正式的試驗(yàn)，是冷熱沖擊測(cè)試儀對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試的重要的步驟

先，冷熱沖擊測(cè)試儀試驗(yàn)樣品需要嚴(yán)格按照冷熱沖擊箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)的要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到測(cè)試點(diǎn)，并保持足夠的的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)度為準(zhǔn)，其次，務(wù)必在高溫試驗(yàn)箱測(cè)試完畢之后，在5分鐘內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1小時(shí)或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)度為準(zhǔn).再次，低溫測(cè)試箱完畢之后，在5分鐘內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70%℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1小時(shí)或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)都為準(zhǔn)。

后，為了保證材料高低溫冷熱沖擊測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，請(qǐng)按照以上步驟重復(fù)三周期，重復(fù)上術(shù)實(shí)驗(yàn)方法。因?yàn)楦鶕?jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差.