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顯微顆粒粒度圖像分析儀(金剛石微粉鑒定)--SMZ-B1系列體視(立體)顯微鏡(用金剛石磨料顆粒觀察與檢測)

來源:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司(重慶澳浦顯微鏡、奧林巴斯顯微鏡、蔡司顯微鏡等)熱線:13910386343   2011年11月23日 21:31  

北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司
(王春曉)
:wangcx010

公司地址:北京市海淀區(qū)西三旗上奧世紀中心1號樓3單元906室

SMZ-B1系列體視(立體)顯微鏡(用金剛石磨料顆粒觀察與檢測)
 
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北京中顯顯微顆粒粒度檢測分析儀(金剛石磨料檢測)

連續(xù)變倍體視顯微鏡

技術(shù)參數(shù)

 

變倍比
1∶6.5
放大倍數(shù)
7倍—45倍
物鏡變倍范圍
0.7×—4.5×
高眼點廣角目鏡
WFH10×/20mm
工作距離
100mm
雙目瞳距
54-76mm
視度調(diào)節(jié)
±5屈光度 雙筒可調(diào)
觀察頭
45度傾斜,可360度旋轉(zhuǎn)
底座
自然光平底座
光源
上光源,環(huán)形熒光燈

 

 

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