分析型掃描電子顯微鏡的結構

來源：北京凱瑞永科技有限公司 2024年01月29日 16:40

分析型掃描電子顯微鏡的能夠觀察材料表面的微觀結構、形態(tài)、晶界、相界等，分析材料的表面粗糙度、顆粒大小及分布等，這些信息對于了解材料的性質(zhì)、性能和制備工藝等具有重要意義。

結構：

電子光學系統(tǒng)：包括電子槍、電磁透鏡和掃描線圈等部件。電子槍是發(fā)射電子的源，電磁透鏡則用于匯聚電子并調(diào)節(jié)電子束的聚焦狀態(tài)，而掃描線圈則使電子束在樣品表面作有規(guī)則的掃描動作。

信號探測處理和顯示系統(tǒng)：在電子束與樣品相互作用的過程中，會產(chǎn)生各種信號，如二次電子、背散射電子、吸收電子、X射線等。這些信號被相應的探測器接收，轉換為電信號，再經(jīng)過放大和處理后傳輸?shù)斤@像管或計算機系統(tǒng)，最終以圖像的形式顯示出來。

真空系統(tǒng)：為了確保電子束的正常運行和避免污染，分析型掃描電子顯微鏡需要在高真空環(huán)境下工作。真空系統(tǒng)的作用是排除空氣，創(chuàng)造一個清潔的工作環(huán)境。

冷卻循環(huán)水系統(tǒng)：為了防止設備過熱，分析型掃描電子顯微鏡通常需要配備冷卻循環(huán)水系統(tǒng)。該系統(tǒng)能夠?qū)⒃O備運行過程中產(chǎn)生的熱量帶走，保證設備的正常工作。

電源供給系統(tǒng)：為分析型掃描電子顯微鏡提供所需的電源，包括供電、控制和調(diào)節(jié)等電路。

相關產(chǎn)品

凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權或有權使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權使用作品的，應在授權范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關法律責任。
本網(wǎng)轉載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內(nèi)容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關權利。

聯(lián)系我們