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渦流測(cè)厚儀的測(cè)試原理

來(lái)源:深圳市京都玉崎電子有限公司   2024年04月07日 14:03  

渦流涂層測(cè)厚儀通常是一種接觸式的儀器,而不是非接觸式的。在測(cè)量時(shí),探頭需要與被測(cè)涂層表面接觸,并在涂層表面上移動(dòng)以測(cè)量涂層厚度。探頭通常是一個(gè)圓錐形或圓盤(pán)形的傳感器,其下端是一個(gè)涂有導(dǎo)電涂層的絕緣基座,涂層的厚度可以通過(guò)檢測(cè)電容器電容的變化來(lái)計(jì)算。


渦流涂層測(cè)厚儀利用渦流感應(yīng)原理,當(dāng)交變電流通過(guò)探頭的線圈時(shí),在被測(cè)涂層表面產(chǎn)生一個(gè)交變磁場(chǎng)。涂層內(nèi)部的渦流會(huì)抵消掉探頭線圈產(chǎn)生的磁場(chǎng),使探頭感應(yīng)到的磁場(chǎng)變?nèi)?。渦流的強(qiáng)度與涂層厚度成反比,因此可以通過(guò)測(cè)量探頭感應(yīng)到的磁場(chǎng)變化來(lái)計(jì)算涂層的厚度。


渦流涂層測(cè)厚儀適用于測(cè)量電絕緣性或部分絕緣性涂層在導(dǎo)體表面的厚度。對(duì)于非絕緣性涂層,渦流測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性可能會(huì)受到干擾,因此在使用時(shí)需要進(jìn)行校準(zhǔn),并根據(jù)被測(cè)涂層的類型和特性選擇合適的探頭。



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