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日本YAMADA檢測(cè)燈山田光學(xué)YP-250I原理

來(lái)源:湖南中崎科技有限公司   2024年05月11日 15:09  

YAMADA山田光學(xué) 檢測(cè)燈 YP-250I

高亮度鹵素光源

該照明裝置可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上,是一種用于宏觀觀察的照明裝置。半導(dǎo)體行業(yè),液晶面板行業(yè)等都適用

日本YAMADA檢測(cè)燈山田光學(xué)YP-250I原理

總結(jié)

1.樣品表面可照亮400,000Lx以上。

2.采用鹵素?zé)糇鳛楣庠矗虼松珳馗?,照明不均勻度小,照?br _mstmutation="1" _istranslated="1"/>非常穩(wěn)定銳利。

3.使用冷鏡的散熱效果
極低,是傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。

4.兩級(jí)切換機(jī)制
,只需輕輕一按即可在高照度觀察和低照度觀察之間切換。
YP-2I???照度范圍φ150 YP-30I?照度范圍φ250

YP-60I可在螺旋槳風(fēng)扇型和風(fēng)管風(fēng)扇型之間進(jìn)行選擇。 )

日本YAMADA檢測(cè)燈山田光學(xué)YP-250I原理

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