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【顯微課堂】電池制造過程中的毛刺檢測

來源:徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司   2024年05月17日 17:20  

如何在電池電極片制造和電池組裝的檢驗和質(zhì)量控制中檢測毛刺并確定其潛在的破壞風(fēng)險

【顯微課堂】電池制造過程中的毛刺檢測

毛刺是電池電極片邊緣可能出現(xiàn)的缺陷,例如在制造過程中的分切環(huán)節(jié)。它們可能會因諸如短路等故障導(dǎo)致電池性能下降,并引發(fā)安全和可靠性問題。毛刺檢測是電池生產(chǎn)質(zhì)量控制的重要部分,對于生產(chǎn)具有可靠性能和壽命的電池至關(guān)重要。通過適當照明的光學(xué)顯微鏡可以在生產(chǎn)過程的關(guān)鍵步驟中快速可靠地對電極上的毛刺進行視覺檢測



電池電極片毛刺檢測

毛刺是電池電極片邊緣不需要的金屬突起,通常是由于電池制造過程中分離工序的分切或集流體的焊接造成的。毛刺可能有害,因為它們可能會撕裂或劃破電極的隔膜層。這可能導(dǎo)致電池的正極(陰極)和負極(陽極)之間發(fā)生熱失控和短路等問題 [1,2]。因此,在電池生產(chǎn)過程中,進行高效的在線檢測以發(fā)現(xiàn)和分析毛刺至關(guān)重要。


為什么需要進行毛刺檢測?

如上所述,毛刺可能導(dǎo)致電池性能下降甚至失效,因此必須在制造過程中仔細檢查其存在。由于工具的不對準或磨損,在電池生產(chǎn)的分切和電極成型過程中很難避免毛刺的產(chǎn)生(參見圖1的電池電極制造和電池組裝)。因此,毛刺檢測和分析是檢查和質(zhì)量控制的關(guān)鍵部分 [1-3]。


電池生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制(QC)需要在電池組件生產(chǎn)的關(guān)鍵步驟中進行目視檢查,以確保符合規(guī)格。


【顯微課堂】電池制造過程中的毛刺檢測

圖1:顯示了電池生產(chǎn)的各個步驟的示意圖,包括電極片制造、電池組裝和電池完成。在分切和電極片成型過程中,可能會產(chǎn)生毛刺。



在制造過程中檢測電池電極片邊緣的毛刺非常重要,因為具有特定大小的毛刺可能會損壞陽極和陰極電極之間的隔膜,并導(dǎo)致短路(參見圖2)。因此,必須分析它們的大小,以確定它們是否具有較低的或較高的對電池系統(tǒng)造成損害的可能性。IEEE 1625標準[4]的第5.3.6.2節(jié)建議測量毛刺并將其與隔膜厚度公差限值進行比較。刺檢查通常是通過使用光學(xué)顯微鏡觀察電極片的邊緣或側(cè)面來進行的。


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圖2:鋰離子電池橫截面示意圖,顯示了陰極(正極)和陽極(負極)電極上的毛刺延伸到隔膜中,其中“pd”表示穿透距離。



如果在檢查過程中發(fā)現(xiàn)具有關(guān)鍵長度的毛刺,那么可能需要調(diào)整一些工藝,并需要檢查、調(diào)整或更換諸如滾刀等工具,然后才能進行后續(xù)生產(chǎn)。



毛刺檢測和分析的方法

對電池電極片和其他組件上的毛刺進行高效、可靠的檢測和分析至關(guān)重要。這可以通過在電池生產(chǎn)過程中使用光學(xué)顯微鏡進行在線目視檢查來實現(xiàn)。關(guān)鍵毛刺的尺寸判斷很大程度上決定了所需光學(xué)顯微鏡的性能水平。


適當?shù)娘@微鏡應(yīng)確??焖?、高效、可靠和準確的毛刺檢測。需要考慮的一些重要因素是照明和對比度方法、分辨率、放大倍數(shù)、圖像的快速捕獲和存儲、輕松訪問存儲的數(shù)據(jù)以及實用測量工具的可用性 [5,6,7]。


在電池生產(chǎn)過程中選擇適當?shù)恼彰鱽頇z測毛刺可能很重要。根據(jù)毛刺的大小,可以使用不同的照明方法[7],如環(huán)形光、近垂直光、漫射光和偏振光,以實現(xiàn)更準確和可靠的檢測。偏振光有助于在觀察電極邊緣時提高與背景的對比度。漫射照明可能減少金屬毛刺產(chǎn)生的眩光,簡化檢測過程。檢測顯微鏡還應(yīng)提供對存儲的毛刺圖像和測量數(shù)據(jù)的輕松訪問。


為了使檢測顯微鏡在電極片檢測過程中能夠迅速可靠地檢測毛刺,它應(yīng)該具備以下特點

無需樣品制備

能夠通過合適的照明(從多種照明選項中選擇)實現(xiàn)良好的毛刺良好可視化

通過易于使用的軟件實現(xiàn)實用且準確的圖像分析

使檢測結(jié)果的記錄和分享變得簡單直接

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圖3:一個電池電極片,其邊緣有毛刺(用紅色箭頭標記)。該圖像是用DVM6數(shù)碼顯微鏡拍攝的。


使用徠卡檢測解決方案進行毛刺檢測和分析

用戶可以在徠卡顯微鏡解決方案的幫助下加快生產(chǎn)過程并提高電池質(zhì)量 [5-7]。適當?shù)娘@微鏡取決于需要檢測的關(guān)鍵毛刺尺寸和檢查類型,例如是在線檢查還是離線檢查。對于故障分析和研發(fā),毛刺檢測也可能是必要的。


通常,對于可靠且高效的在線檢查,關(guān)于檢測大于15µm的毛刺,Emspira 3數(shù)碼顯微鏡會是一個很好的選擇。Emspira 3可用于高效的在線檢查。


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圖4:確定電池電極片邊緣毛刺的長度:使用DVM6數(shù)碼顯微鏡僅使用環(huán)形光(A)和帶有交叉偏振器的環(huán)形光以減少眩光(B)獲取的毛刺圖像。



對于快速且可靠的在線和離線檢查,以檢測大于2µm的毛刺,DVM6數(shù)碼顯微鏡更為合適,因為它提供了更高的分辨率和放大倍數(shù)。涉及故障分析和研發(fā)過程中毛刺檢測的應(yīng)用也可以用DVM6來解決。


在某些情況下,即使是小到0.6µm的毛刺,無論是在線檢查還是離線檢查、故障分析或研發(fā),都可能需要檢測和分析。對于這種需求,DM8000 M或DM12000 M復(fù)合顯微鏡可以提供所需性能。



總結(jié)與結(jié)論

電池生產(chǎn)過程中毛刺的檢測是質(zhì)量控制(QC)的重要部分。電池電極片上的毛刺可能導(dǎo)致短路、熱失控以及電池性能和壽命的降低。因此,快速準確地識別可能損壞電池系統(tǒng)的毛刺是維持所需電池性能并最小化故障風(fēng)險的關(guān)鍵。這也有助于減少浪費,例如電極材料,并提高效率和成本效益。結(jié)合適當選擇的照明方式的光學(xué)顯微鏡可以提供一種快速可靠的方法來識別和分析毛刺。



參考資料:


1.G. Qian, F. Monaco, D. Meng, S.-J. Lee, G. Zan, J. Li, D. Karpov, S. Gul, D. Vine, B. Stripe, J. Zhang, J.-S. Lee, Z.-F. Ma, W. Yun, P. Pianetta, X. Yu, L. Li, P. Cloeten, Y. Liu, The role of structural defects in commercial lithium-ion batteries, Cell Reports Physical Science (2021) vol. 2, iss. 9, 100554, DOI: 10.1016/j.xcrp.2021.100554.

2.X.-Y. Yao, S. Saxena, L. Su, M.G. Pecht, The Explosive Nature of Tab Burrs in Li-Ion Batteries, IEEE Access (2019) vol. 7, pp. 45978-45982, DOI: 10.1109/ACCESS.2019.2909018.

3.H.H. Heimes, A. Kampker, C. Lienemann, M.A. Locke, C. Offermanns, S. Michaelis, E. Rahimzei, Lithium-Ion Battery Cell Production Process, 3rd Ed. (PEM of RWTH Aachen and VDMA, 2018, Frankfurt am Main) ISBN: 978-3-947920-03-7.

4.IEEE 1625-2008 Standard for Rechargeable Batteries for Multi-Cell Mobile Computing Devices, IEEE Standards Association (IEEE SA).

5.J. DeRose, Digital Inspection Microscope for Industrial Applications: How to choose the right microscope which helps users achieve efficient workflows, Science Lab (2023) Leica Microsystems.

6.M. Doppler, How to Use a Digital Microscope to Streamline Inspection Processes, Webinar on-demand, Science Lab (2021) Leica Microsystems.

7.J. DeRose, M. Doppler, Microscope Illumination for Industrial Applications: How to select the appropriate light source for microscope inspection, Science Lab (2023) Leica Microsystems.



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