數(shù)顯磁性測厚儀參數(shù)

數(shù)顯磁性測厚儀參數(shù)：
■測量范圍： O-200μm。
■執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。
■測量精度：±（ 0.7μm 3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度。

數(shù)顯磁性測厚儀原理分類：
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
■點(diǎn)接觸式測厚儀
■面接觸時(shí)測厚儀

2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同，又可分為以下幾種：
■激光測厚儀
■超聲波測厚儀
■涂層測厚儀
■X射線測厚儀
■白光干涉測厚儀
■電解式測厚儀

數(shù)顯磁性測厚儀應(yīng)用：
■薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

■涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

■超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

■激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

■X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

數(shù)顯磁性測厚儀用途：
該測厚儀測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。

漆膜測厚儀注意事項(xiàng)：
測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項(xiàng)：
★在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
★測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
★測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
★測量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
★測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測厚法。
★測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
★在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測量的讀數(shù)。
★在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

簡介：

測定油漆涂料干膜厚度。試驗(yàn)技術(shù)特征：通過涂覆前后的比較測量干膜厚度。

參數(shù)：
★千分表精度：1μm。
★測量范圍：0-1000μm。
★執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO2808-74 GB/T134522-92 GB/T1764-79。