產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng)、EQE、JV、IV、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng) 、CIE、色溫、光譜功率分布 λ、輻射通量、光通量、相關(guān)色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）、電功率密度、積分球

電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)xHiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員，用于對(duì)電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測(cè)量。HiYield 系統(tǒng)能夠以精準(zhǔn)的檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量，得到全面的測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；同時(shí)該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊，可以對(duì)器件的老化過(guò)程進(jìn)行測(cè)試，且同時(shí)得到器件老化過(guò)程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測(cè)試儀，僅對(duì)電流、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試），典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE、壽命測(cè)試、CIE、CRI、CCT、光譜響應(yīng)、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強(qiáng)度、峰值波長(zhǎng)、FHWM等，廣泛應(yīng)用于各種類(lèi)型的電致發(fā)光器件測(cè)量。

HiYield-EL能夠以精準(zhǔn)的檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量，得到全面的法測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊，可以對(duì)器件的老化過(guò)程進(jìn)行測(cè)試，且同時(shí)得到器件老化過(guò)程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測(cè)試儀，僅對(duì)電流、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試）；由軟件控制測(cè)試過(guò)程，操作便捷，圖表和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示；可快速、可靠對(duì)樣品的測(cè)試過(guò)程進(jìn)行追蹤；具有實(shí)時(shí)測(cè)量、預(yù)測(cè)量、定制測(cè)量、掃描測(cè)量、時(shí)間依賴(lài)測(cè)量等豐富的測(cè)量模式。

HiYield-EL測(cè)試功能包括效率參數(shù)：發(fā)光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)等； 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等；穩(wěn)定性測(cè)試。

包含測(cè)量模式：電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）、電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）、恒壓?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量；、恒流單點(diǎn)測(cè)量、穩(wěn)定性測(cè)量：不同老化時(shí)間下測(cè)量、電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng)、JV、IV、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng)等。