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X熒光鍍層測厚儀的校準方法

來源:深圳市藝慈儀器有限公司   2024年06月29日 16:45  
  X熒光鍍層測厚儀采用X射線熒光光譜分析技術(shù)。當X射線照射到被測樣品表面時,會激發(fā)出被測元素的特征X射線熒光。通過測量這些熒光的能量和強度,可以確定被測元素的種類和含量,從而計算出鍍層的厚度。
 
  X熒光鍍層測厚儀是一種非破壞性測試設(shè)備,用于測量金屬基材上涂層或鍍層的厚度。為確保其測量結(jié)果的準確性和可靠性,需要定期進行校準。以下是X熒光鍍層測厚儀的校準方法:
 
  1、準備校準標準樣品
 
  選擇符合測量范圍和精度的校準標準樣品。
 
  確保標準樣品的涂層或鍍層厚度已知且準確。
 
  標準樣品應具有穩(wěn)定的物理和化學性質(zhì),以確保長期使用的準確性。
 
  2、設(shè)置測厚儀
 
  打開X熒光鍍層測厚儀,并預熱至穩(wěn)定工作狀態(tài)。
 
  根據(jù)測量需求,選擇合適的測量模式和參數(shù)設(shè)置。
 
  確保測厚儀的探頭和測量面干凈、無損傷,以保證測量精度。
 
  3、進行零點校準
 
  在沒有涂層或鍍層的金屬基材上進行零點校準。
 
  將探頭放置在金屬基材上,按照測厚儀的提示進行零點設(shè)置。
 
  零點校準完成后,記錄校準結(jié)果。
 
  4、進行厚度校準
 
  使用標準樣品進行厚度校準。
 
  將探頭放置在標準樣品上,記錄測厚儀的測量值。
 
  比較測量值與標準樣品已知的涂層或鍍層厚度值,計算誤差。
 
  根據(jù)誤差調(diào)整測厚儀的校準參數(shù),直至測量值與標準值一致或誤差在允許范圍內(nèi)。
 
  重復上述步驟,直至所有需要校準的測量范圍和參數(shù)均完成校準。
 
  5、記錄校準結(jié)果
 
  記錄校準過程中使用的標準樣品信息、測量值、誤差及調(diào)整參數(shù)等。
 
  將校準結(jié)果保存至測厚儀或相關(guān)文件中,以便日后查詢和追溯。
 
  6、驗證校準結(jié)果
 
  使用其他已知厚度的標準樣品進行驗證測量。
 
  比較驗證測量值與標準值,確保誤差在允許范圍內(nèi)。
 
  如驗證結(jié)果不符合要求,需重新進行校準或檢查測厚儀的性能。

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