產(chǎn)品推薦:氣相|液相|光譜|質(zhì)譜|電化學(xué)|元素分析|水分測定儀|樣品前處理|試驗(yàn)機(jī)|培養(yǎng)箱


化工儀器網(wǎng)>技術(shù)中心>操作使用>正文

歡迎聯(lián)系我

有什么可以幫您? 在線咨詢

關(guān)于X射線熒光光譜儀重要作用介紹

來源:深圳德譜儀器有限公司   2024年07月12日 16:50  
  X射線熒光光譜儀(‌XRF)‌通過激發(fā)源(‌X射線管)‌產(chǎn)生入射X射線(‌一次X射線)‌,‌這些入射X射線能夠激發(fā)被測樣品,‌產(chǎn)生X熒光(‌二次X射線)‌。‌探測器隨后對(duì)產(chǎn)生的X熒光進(jìn)行檢測,‌從而實(shí)現(xiàn)對(duì)物質(zhì)的化學(xué)元素、‌物相、‌化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、‌物證材料等進(jìn)行測試。‌此外,‌X射線熒光光譜分析技術(shù)不僅是一種快速、‌準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法,‌還被用于無損檢測產(chǎn)品和材料質(zhì)量,‌以及微電路的光刻檢驗(yàn)等。‌因此,‌X射線熒光光譜儀在冶金、‌地質(zhì)、‌礦物、‌石油、‌化工、‌生物、‌‌考古等諸多部門和領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。‌
 
  X射線熒光光譜儀基于X射線的原理工作。在這種儀器中,X射線管產(chǎn)生高能的X射線,經(jīng)過樣品時(shí)會(huì)被樣品中的原子吸收和散射,并重新發(fā)射出一系列的X射線熒光。這些熒光信號(hào)進(jìn)入探測器并被轉(zhuǎn)換為電信號(hào),從而得到元素的種類和含量信息。
 
  此外,‌X射線熒光光譜儀的測量線性誤差和測量重復(fù)性等指標(biāo),‌以及不同元素具有波長不同的特征X射線譜線的特性,‌使得該儀器能夠進(jìn)行定性和定量分析,‌進(jìn)一步擴(kuò)展了其應(yīng)用范圍和準(zhǔn)確性。‌由于其便攜性和現(xiàn)場分析能力,‌X射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面的儀器之一。‌
 
  X射線管是X射線熒光光譜儀的核心部件,它能夠產(chǎn)生高能量的X射線。樣品支架則是將樣品放置在固定位置,確保X射線的照射位置和角度都是一致的。熒光探測器則是用來測量熒光輻射的強(qiáng)度和能量的,通常采用固態(tài)半導(dǎo)體探測器。信號(hào)處理器用來對(duì)測量到的信號(hào)進(jìn)行分析和處理,以獲取所需的數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)處理器則將處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步分析和解釋。

免責(zé)聲明

  • 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
  • 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
  • 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
企業(yè)未開通此功能
詳詢客服 : 0571-87858618