晶圓襯底檢測(cè)粗糙度、平面度、臺(tái)階高度——優(yōu)可測(cè)白光干涉儀案例
從18世紀(jì)紅外線被發(fā)現(xiàn),到19世紀(jì)紅外探測(cè)器的發(fā)明。至今,隨著工藝更新迭代,紅外探測(cè)器朝著多波段、大面陣、高分辨率、低成本量產(chǎn)快速發(fā)展。
今天,小優(yōu)博士帶您探索紅外探測(cè)的奧秘。
一、紅外線是什么
紅外光是一種電磁波,波長(zhǎng)范圍通常在0.75μm到1000μm之間。
它有較強(qiáng)的熱效應(yīng),輻射能力強(qiáng),我們感受到陽光的溫暖,正是太陽紅外光的作用。
但是,由于紅外光是不可見光,我們無法通過肉眼直接觀察。
二、紅外線探測(cè)的應(yīng)用
在日常生活與工業(yè)生產(chǎn)中,經(jīng)常利用紅外線的性質(zhì)進(jìn)行紅外線探測(cè),可借助紅外探測(cè)器采集輻射能量,轉(zhuǎn)換成信號(hào)或圖像。其應(yīng)用場(chǎng)景非常廣泛,主要運(yùn)用在醫(yī)療、工業(yè)、安防、軍事、氣象等行業(yè)。
1、紅外探測(cè)+溫度:
例如:紅外體溫槍、紅外工業(yè)傳感器、化工廠泄露檢測(cè)等。
紅外體溫槍
工業(yè)用溫度傳感器
泄露檢測(cè)
2、紅外探測(cè)+相機(jī):
例如:熱成像相機(jī)、夜視儀等。
熱成像相機(jī)
夜視儀
3、紅外探測(cè)+跟蹤系統(tǒng):
例如:跟蹤系統(tǒng)等。
跟蹤系統(tǒng)
三、紅外探測(cè)芯片
紅外探測(cè)芯片是紅外探測(cè)器的核心單元,由于紅外探測(cè)器有特殊用途,紅外探測(cè)芯片長(zhǎng)期受到國(guó)外的技術(shù)壟斷。經(jīng)過數(shù)十年的發(fā)展,國(guó)產(chǎn)紅外芯片在研發(fā)和生產(chǎn)方面均取得顯著進(jìn)展,已成功突破國(guó)外壟斷,基本實(shí)現(xiàn)國(guó)產(chǎn)化替代。
紅外探測(cè)器芯片
紅外探測(cè)芯片通常選擇銻化鎵(GaSb),銻化銦(InSb),碲鋅鎘(CdZnTe),碲化鎘汞(HgCdTe)等材料作為晶圓襯底,再通過蝕刻、鈍化、金屬化、封裝等一系列晶圓級(jí)封裝工藝流程制造而成。
晶圓襯底
在這一過程中,晶圓襯底的表面粗糙度影響感光性能、分辨率/靈敏度;蝕刻臺(tái)階高度影響電子傳輸效率;平面度影響后期封裝良率。因此,需要對(duì)晶圓襯底的表面粗糙度、臺(tái)階高度以及整體平整度嚴(yán)格把控。
優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-7000系列:
高精度測(cè)量晶圓襯底的亞納米級(jí)粗糙度、納米級(jí)臺(tái)階、整體平面度;現(xiàn)已助力國(guó)內(nèi)多家頭部紅外晶圓襯底/紅外芯片廠家,完成研發(fā)進(jìn)展突破和生產(chǎn)工藝改善。
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