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有源磁場消除器“AMC-331”特許機(jī)器株式會(huì)社
推出采用微振動(dòng)測量專-利技術(shù)打造的高性能主動(dòng)磁場消除器。
“AMC-331”是一種高性能主動(dòng)磁場消除器，可保護(hù)電子束應(yīng)用設(shè)備免受磁場波動(dòng)的影響。
通過使用控制器和亥姆霍茲線圈的組合來
控制由磁場傳感器檢測到的干擾磁場，來抑制干擾磁場的影響。它有利于
改善電子顯微鏡的圖像，提高電子束加工設(shè)備的加工精度。 [特點(diǎn)] ■高達(dá)40～60dB的優(yōu)異衰減性能■與使用屏蔽的磁場對策相比，成本約為1/10 ■只需將線圈固定在設(shè)備周圍■根據(jù)目標(biāo)設(shè)備設(shè)計(jì)線圈■用于頻率分析以此為基礎(chǔ)，對多種干擾磁場進(jìn)行精準(zhǔn)控制*詳情請參閱PDF文檔或隨時(shí)聯(lián)系我們。
基本信息有源磁場消除器“AMC-331”
[其他特點(diǎn)]
■控制方式：準(zhǔn)直流+交流代表值控制+各軸獨(dú)立反饋控制
■控制范圍：±15μT（認(rèn)證）
■控制頻率：準(zhǔn)直流～1kHz
■衰減率：40～60dB
*對于詳細(xì)信息請查看 PDF 文檔或隨時(shí)聯(lián)系我們。
| 價(jià)格范圍 | 請聯(lián)系我們 |
|---|---|
| 最后期限 | 請聯(lián)系我們 |
| 應(yīng)用/結(jié)果示例 | [用途] ■掃描電子顯微鏡(SEM) ■透射電子顯微鏡(TEM) ■聚焦離子束(FIB) ■尺寸SEM (CD-SEM) ■電子束光刻系統(tǒng)(EBL) ■質(zhì)譜儀(MS) *了解更多信息，請參閱 PDF 文檔或隨時(shí)聯(lián)系我們。 |
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