NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710
NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710
NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710
Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,在研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域,越來越需要能夠輕松、快速、日益嚴(yán)格、高精度地管理材料。其中,電阻率(表面、體積、電導(dǎo)率)是表示材料狀態(tài)和性質(zhì)的指標(biāo)。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準(zhǔn)確地測量電阻率的設(shè)備。
該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法,可以使用各種探頭測量導(dǎo)電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。
與傳統(tǒng)的4端子法不同,無需為測量對象準(zhǔn)備電極,使用本公司提供的各種4點(diǎn)探頭即可一鍵測量電阻率。
主要測量目標(biāo)
■導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導(dǎo)電橡膠、
導(dǎo)電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。
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可以隨時(shí)隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率(比電阻)和電導(dǎo)率。
與Loresta GP(10 -3至 10 7 )相比,測量范圍從 10 -4擴(kuò)大至 10 7 Ω
通過改變電流方向可以測量硅片
恒定電流可變功能(可使用微小電流進(jìn)行樣品測量)
可輸出2000個(gè)測量結(jié)果至USB存儲器
通過觸摸屏提高操作性
規(guī)格
測量方法 | 恒流施加法/四點(diǎn)探針法 |
---|---|
數(shù)據(jù)顯示 | 640 x 480 點(diǎn) 7.5 英寸全彩 TFT LCD 觸摸屏 |
轉(zhuǎn)換器 | 上、下限值可單獨(dú)設(shè)置 |
探測 | 專用探頭 ASR、LSR、ESR、PSR、QR、BSR、NSCR、AR、BR |
數(shù)據(jù)輸出 | USB存儲器 |
電源 | AC85~264V 47~63Hz |
尺寸/重量 | W320 x D285 x H110mm(儲物箱打開時(shí),W320 x D285 x H200mm) 約 2.4kg |
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備 | ASR 探頭,4 針探頭檢查器 |
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測量范圍和精度
\ | 恒流值 | ||||||
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1A | 100毫安 | 10毫安 | 1毫安 | 100μA | 10μA | ||
測量 范圍 | 10 -4 | ±(2.0%+30dgt) | |||||
10 -3 | ±(2.0%+20dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |||||
10-2 | ±(1.0%+5dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | ||||
10-1 | ±(1.0%+3dgt) | ±(1.0%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |||
10 0 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |||
10 1 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) |
\ | 恒流值 | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
1毫安 | 100μA | 10μA | 1微安 | 0.1μA | ||
測量 范圍 | 10 2 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | |
10 3 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | ±(2.0%+20dgt) | ||
10 4 | ±(0.5%+3dgt) | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+5dgt) | |||
10 5 | ±(0.5%+3dgt) | ±(1.0%+3dgt) | ||||
10 6 | ±(1.0%+3dgt) | |||||
10 7 | ±(2.0%+5dgt) |
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