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NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710

來源:池田屋實(shí)業(yè)(深圳)有限公司   2024年11月05日 15:20  

NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710

NITTOSEIKO日東精工低阻電阻率計(jì)MCP-T710

Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。

 隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,在研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域,越來越需要能夠輕松、快速、日益嚴(yán)格、高精度地管理材料。其中,電阻率(表面、體積、電導(dǎo)率)是表示材料狀態(tài)和性質(zhì)的指標(biāo)。 Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準(zhǔn)確地測量電阻率的設(shè)備。

   該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法,可以使用各種探頭測量導(dǎo)電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。

   與傳統(tǒng)的4端子法不同,無需為測量對象準(zhǔn)備電極,使用本公司提供的各種4點(diǎn)探頭即可一鍵測量電阻率。

主要測量目標(biāo)

■導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導(dǎo)電橡膠、
導(dǎo)電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。

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可以隨時(shí)隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率(比電阻)和電導(dǎo)率。

  • 與Loresta GP(10 -3至 10 7 )相比,測量范圍從 10 -4擴(kuò)大至 10 7 Ω

  • 通過改變電流方向可以測量硅片

  • 恒定電流可變功能(可使用微小電流進(jìn)行樣品測量)

  • 可輸出2000個(gè)測量結(jié)果至USB存儲器

  • 通過觸摸屏提高操作性


規(guī)格

測量方法恒流施加法/四點(diǎn)探針法
數(shù)據(jù)顯示640 x 480 點(diǎn) 7.5 英寸全彩 TFT LCD 觸摸屏
轉(zhuǎn)換器上、下限值可單獨(dú)設(shè)置
探測專用探頭 ASR、LSR、ESR、PSR、QR、BSR、NSCR、AR、BR
數(shù)據(jù)輸出USB存儲器
電源AC85~264V 47~63Hz
尺寸/重量W320 x D285 x H110mm(儲物箱打開時(shí),W320 x D285 x H200mm) 約 2.4kg
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備ASR 探頭,4 針探頭檢查器

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測量范圍和精度

\恒流值
1A100毫安10毫安1毫安100μA10μA
測量 范圍



10 -4±(2.0%+30dgt)




10 -3±(2.0%+20dgt)±(2.0%+20dgt)



10-2±(1.0%+5dgt)±(1.0%+5dgt)±(2.0%+20dgt)


10-1±(1.0%+3dgt)±(1.0%+3dgt)±(1.0%+5dgt)±(2.0%+20dgt)

10 0
±(0.5%+3dgt)±(0.5%+3dgt)±(1.0%+5dgt)±(2.0%+20dgt)
10 1

±(0.5%+3dgt)±(0.5%+3dgt)±(1.0%+5dgt)±(2.0%+20dgt)
\恒流值
1毫安100μA10μA1微安0.1μA
測量 范圍



10 2±(0.5%+3dgt)±(0.5%+3dgt)±(1.0%+5dgt)±(2.0%+20dgt)
10 3
±(0.5%+3dgt)±(0.5%+3dgt)±(1.0%+5dgt)±(2.0%+20dgt)
10 4

±(0.5%+3dgt)±(0.5%+3dgt)±(1.0%+5dgt)
10 5


±(0.5%+3dgt)±(1.0%+3dgt)
10 6



±(1.0%+3dgt)
10 7



±(2.0%+5dgt)


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