適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹

來源：秋山科技（東莞）有限公司 2024年11月13日 11:28

適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹

光學分辨率1.8μm/速度檢測！
用于基材和金屬表面的缺陷檢查！

概述

這是使用高分辨率相機和高精度XY平臺的二維檢查裝置。
適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷。
光學分辨率為1.8μm，可實現(xiàn)高清檢查。
它還可以處理尺寸測量，還可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。

用于檢查觸摸面板、異物等缺陷！

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