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菲希爾X射線測厚儀XDLM237信息

來源:無錫駿展儀器有限責(zé)任公司   2024年11月15日 15:49  

  德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣,它們特別適合于無損厚度測量和薄涂層分析以及批量生產(chǎn)的零件和印制板上的自動測量。有三個(gè)型號:XDLM 231具有平面支撐臺,XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個(gè)電動X / Y平臺,當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí),該平臺會自動移到裝載位置。

  應(yīng)用實(shí)例:

  XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起,測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時(shí),就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得*大的信號強(qiáng)度。


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