偏光顯微鏡用于礦物和礦石分析研究

顏色 – 偏光顯微研究
       光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學(xué)和礦物表征的*備工具。典型的應(yīng)用是對礦物的紋理和解離進行定性、定量分析及測定。大部分巖石和礦物樣品含有光學(xué)各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的最重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結(jié)晶度和巖石礦物形貌，幫助識別各類巖石礦物。
檢測更多的特性
       偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓力、形成時的組份、溶液結(jié)晶化或熔體凝固化，都會影響礦物形貌、結(jié)晶及光學(xué)特性，也可以作為我們判定某一特定巖石的成因和來源的依據(jù)。
適用于您特定需求的各種觀察方式
       借助透射偏光顯微鏡可以對拋光薄片進行研究，運用正交、錐光、DIC 及相差等各種透射光技術(shù)識別單個晶體和礦物顆粒。對于不透明的礦物，利用明場、暗場、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光觀察方法，能夠分析比如攣晶的顏色、晶體解理面及形貌等特征。大多數(shù)情況下，在對各向異性材料進行分類時，對錐光觀察獲得的干涉圖像進行分析的價值遠勝于物體本身的圖像信息。
選擇適合的儀器
       在礦物學(xué)教育和礦石研究領(lǐng)域中，偏光顯微鏡也是您的首要選擇，它包括簡易的觀察系統(tǒng)和*端的分析型儀器。這類顯微鏡永遠不會過時，并能隨時進行升級。它可以提供無應(yīng)力光學(xué)元件、全功能的觀察方式和測量技術(shù)，正交偏光和錐光鑒定，解理角的測定，并有多種選配件以及數(shù)字分析功能。
如需獲取更深層的信息
       掃描電子顯微鏡是一種多用途的分析儀器，例如可用于礦相分類和定量研究及礦物解離分析。礦石 & 礦物表征的*常用信號為背散射電子信號，它能用于提供化學(xué)信息。