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鄰面病變牙齒的臨床 SWIR 和 CP-OCT 成像

來(lái)源:上海恒光智影醫(yī)療科技有限公司   2025年01月15日 17:41  

本文要點(diǎn):牙釉質(zhì)在短波紅外成像(SWIR)波長(zhǎng)下高度透明,可以在不需要電離輻射的情況下檢測(cè)牙齒齲壞。本研究的目的是使用SWIR成像方法,包括交叉偏振光相干斷層掃描(CP-OCT)、咬合透照(SWIR-OT)、鄰面透照(SWIR-PT)和咬合反射(SWIR-R),在體內(nèi)成像鄰面病變,并與放射線照相的靈敏度進(jìn)行比較。在每個(gè)計(jì)劃修復(fù)的鄰面病變接觸點(diǎn)獲取相鄰牙齒的SWIR圖像。評(píng)估每一側(cè)的放射線照相和每種SWIR成像方法的病變存在和深度。放射線照片和CP-OCT圖像中的病變由單一檢查員識(shí)別,而SWIR圖像中的病變通過半自動(dòng)圖像分割的對(duì)比閾值來(lái)識(shí)別。所有SWIR成像方法在檢測(cè)對(duì)面修復(fù)牙齒的鄰面病變方面的靈敏度(P<0.05)均顯著高于放射線照片。CP-OCT和SWIR-R成像方法的靈敏度顯著高于其他方法。SWIR成像方法顯示的病變對(duì)比度顯著高于放射線照相。SWIR成像方法可以用于檢測(cè)后牙的鄰面病變,其診斷性能高于放射線照相。CP-OCT似乎適合作為檢測(cè)鄰面病變和評(píng)估其在體內(nèi)嚴(yán)重程度的潛在金標(biāo)準(zhǔn)。



主圖.png





圖片1.png

圖1. 本臨床研究中使用的三種SWIR成像設(shè)備和各自的成像幾何形狀


圖1A展示了手持裝置的圖像。使用來(lái)Model SU640CSX(640×480像素)微SWIR焦平面陣列(FPA)捕獲SWIR圖像。手持裝置包含兩個(gè)在1604-nm用于反射和1314-nm用于透照操作的超發(fā)光二極管。每個(gè)臂的輸出強(qiáng)度在進(jìn)入每個(gè)臂末端的聚四氟乙烯塞之前設(shè)置為10-mW。以30 Hz的速率獲取SWIR-R和SWIR-OT視頻。圖1B展示了SWIR-PT手持設(shè)備的圖像,類似于之前描述的設(shè)備。圖像是使用另一臺(tái)SU640CSX微SWIR FPA捕獲的。兩個(gè)75和100毫米焦距的平凸防反射涂層透鏡以及一個(gè)可調(diào)光圈被放置在手持設(shè)備和InGaAs FPA之間,在焦平面提供9×14 mm2的視場(chǎng)。透照光通過0.4毫米直徑的低OH光纖傳輸。1330nm超發(fā)光二極管(SLD)作為透照的光源,輸出功率為26 mW,帶寬為36納米。輸出強(qiáng)度在進(jìn)入聚四氟乙烯散射桿前設(shè)置為10 mW。以60 Hz的速率獲取SWIR-PT視頻。


圖片2.png

圖2. 顯示從(A)SWIR反射率(SWIR-R)、(B)SWIR咬合透照(SWIR-OT)和(C)SWIR近端透照(SWIR-PT)中提取的病變區(qū)域的分割圖像


圖像從獲取的視頻中提取,并使用MATLAB處理。使用之前研究中開發(fā)的半自動(dòng)圖像分割技術(shù)檢測(cè)鄰面病變。首先通過對(duì)圖像中的每個(gè)像素應(yīng)用以下變換,將原始SWIR圖像轉(zhuǎn)換為對(duì)比度圖:反射為(It – Is)/It,透照為(Is– It)/Is。Is手動(dòng)選擇為鄰近鄰接接觸點(diǎn)的健康牙釉質(zhì)的平均強(qiáng)度。It是接收變換的目標(biāo)像素。在之前的臨床研究中,對(duì)于SWIR成像方法,健康區(qū)域和鄰面病變區(qū)域之間的對(duì)比度顯著更高(P < 0.05),而放射線照相則不然。因此,可以為SWIR成像方法設(shè)置病變檢測(cè)的對(duì)比度閾值,而常規(guī)放射線照相則不能。0.1的對(duì)比度是使用反射和透照SWIR成像正檢測(cè)鄰面病變的可靠閾值。去除對(duì)比度低于0.1的像素,生成一個(gè)二值掩碼,顯示每個(gè)對(duì)比度高于0.1的像素。掩碼中與鄰接接觸點(diǎn)相鄰的獨(dú)立區(qū)域?yàn)猷徝娌∽儏^(qū)域。這種方法避免了由鏡面反射(SWIR-R)或未通過牙齒結(jié)構(gòu)的直接光(SWIR-PT和SWIR-OT)引起的高強(qiáng)度區(qū)域。鏡面反射易于識(shí)別,因?yàn)樗Q于入射角度,并在手持設(shè)備旋轉(zhuǎn)時(shí)消失。分割的病變區(qū)域被隔離用于深度和對(duì)比度測(cè)量。使用此技術(shù)成功分割鄰面病變被記錄為陽(yáng)性檢測(cè)。病變分割失敗則被視為陰性檢測(cè)。如果檢測(cè)為陽(yáng)性,則在半自動(dòng)病變分割后自動(dòng)計(jì)算病變面積(以像素為單位)、平均對(duì)比度和病變深度。圖2展示了SWIR-R、OT和PT分割后病變區(qū)域的示例。

本研究使用的交叉偏振OCT系統(tǒng)是Santec的IVS-3000-CP型。掃頻源系統(tǒng)的工作波長(zhǎng)為1321-nm,帶寬為111-nm(軸向分辨率為11.4µm),可以在大約3秒內(nèi)獲得軸向深度為7-mm、尺寸為6×6-mm的完整斷層圖像。圖1C展示了CP-OCT手持設(shè)備的圖像。它已被用于多項(xiàng)體內(nèi)齲齒成像研究,并在這些參考文獻(xiàn)中有更詳細(xì)的描述。將由可高壓滅菌樹脂制成的器具放置在OCT掃描手柄的遠(yuǎn)端,并用聚乙烯薄膜覆蓋手柄以控制感染。將10psi的空氣連接到設(shè)備上,以防止在圖像采集過程中成像窗口起霧。


圖片3和4.png

圖3.(左)和 圖 4(右). 彩色和SWIR反射圖片


CP-OCT圖像中的反射強(qiáng)度在健康牙釉質(zhì)中隨著深度的增加而減小。只有來(lái)自亞表面病變或牙本質(zhì)釉質(zhì)交界處(DEJ)的反射率增加才會(huì)導(dǎo)致反射增加。本研究中僅對(duì)近端表面的病變進(jìn)行了成像,沒有受到DEJ的干擾。重要的是要注意牙釉質(zhì)雙折射可能引起的強(qiáng)度帶,不要將其中一個(gè)帶中的最大值與病變混淆。幸運(yùn)的是,近端病變足夠深,雙折射帶中的強(qiáng)度最大值比病變的反射率增加低得多。圖3和圖4中近端病變的CP-OCT圖像均顯示了由于釉質(zhì)雙折射引起的帶狀病變。


表1.png

表1. 病變和僅位于修復(fù)和相對(duì)表面上的病變的相應(yīng)病變檢測(cè)率


表1列出了病變和僅位于修復(fù)表面和對(duì)側(cè)表面的病變的檢測(cè)率。病變(n=58)、修復(fù)表面(n=29)和對(duì)側(cè)表面(n=29)的檢測(cè)率均計(jì)算為每種方法檢測(cè)到病變的表面比例,并在表1中列出。盡管一半的病變部位是根據(jù)放射線照片的外觀選擇并計(jì)劃修復(fù)的,SWIR方法的檢測(cè)率均顯著高于放射線照相。SWIR-R和SWIR-PT的檢測(cè)率均顯著高于其他方法。對(duì)側(cè)表面的放射線照相檢測(cè)率提供了更少偏差的比較,病變的檢測(cè)率分別為0.38和0.62。相比之下,每種SWIR方法對(duì)側(cè)表面的檢測(cè)率與病變的檢測(cè)率相似。所有SWIR的檢測(cè)率均顯著高于放射線照相。還列出了放射線照相和SWIR-R、OT&PT的平均病變對(duì)比度值以及CP-OCT和SWIR-R、OT&PT的病變深度。三種SWIR方法SWIR-R、OT&PT的平均病變對(duì)比度均顯著高于放射線照相,幾乎是放射線照相的兩倍。與放射線照相相比,OCT和SWIR-OT的病變深度較高,但差異不顯著。SWIR-PT測(cè)量的病變深度顯著低于其他方法,包括放射線照相。

從接觸區(qū)域獲取的圖像,其中對(duì)側(cè)鄰面表面在放射線照片中不可見的病變顯示在圖4中。在圖4B中,放射線照片顯示牙齒#12上有一個(gè)大病變深入牙本質(zhì),而牙齒#13的對(duì)側(cè)表面沒有可見的病變。修復(fù)后獲取的彩色圖像(圖4C)顯示牙齒#13有一些變色,表明脫礦,但無(wú)法確定病變的嚴(yán)重程度。圖4D中的CP-OCT圖像顯示紅色和黃色箭頭位置下方的牙齒表面下有強(qiáng)烈的反射,清楚地表明牙齒#12和牙齒#13上都病變。使用雙SWIR-OTR成像探頭獲取的圖4E中的SWIR-R圖像顯示兩側(cè)表面都病變,而SWIR-OT僅顯示一個(gè)病變。圖4G和H中從頰側(cè)和舌側(cè)視圖獲取的SWIR-PT圖像,頰側(cè)視圖顯示了兩個(gè)病變。

圖3中顯示了從另一個(gè)接觸區(qū)域獲取的圖像。對(duì)于這個(gè)示例,在接觸的兩側(cè)放射線照相中都確定了病變。修復(fù)后獲取的彩色圖像(圖3C)顯示牙齒#5有脫礦和染色。圖3D中的CP-OCT圖像顯示紅色和黃色箭頭位置下方的牙齒表面下有強(qiáng)烈的反射,清楚地表明牙齒#4和牙齒#5上都病變。使用雙SWIR-OTR成像探頭獲取的圖3E和F中的SWIR-R和SWIR-OT圖像均顯示兩側(cè)表面存在病變。圖3G和H中從頰側(cè)和舌側(cè)視圖獲取的SWIR-PT圖像,兩者均顯示病變。

在本研究中,使用放射線和SWIR成像方法對(duì)計(jì)劃修復(fù)的鄰面病變接觸點(diǎn)進(jìn)行成像。放射線照相、OCT和修復(fù)后暴露鄰面表面的目視檢查在齲齒檢測(cè)方面具有高特異性,被用于將表面識(shí)別為真正的陽(yáng)性。需要注意的是,目視檢查僅顯示表面存在脫礦,無(wú)法顯示病變穿透的深度,而放射線照相和OCT都顯示了穿透深度?;谶@三種方法中的任何一種的陽(yáng)性結(jié)果,研究者發(fā)現(xiàn)所有58個(gè)鄰面表面均存在病變。

對(duì)29個(gè)修復(fù)對(duì)側(cè)表面的病變檢測(cè)率的比較提供了最佳的無(wú)偏測(cè)量,所有SWIR方法的檢測(cè)率均顯著高于放射線照相,其中SWIR-R和PT的性能最高。SWIR方法也提供了比放射線照相高得多的病變對(duì)比度。高病變對(duì)比度對(duì)于自動(dòng)分割圖像分析算法和機(jī)器學(xué)習(xí)的實(shí)施尤為重要。SWIR-OT和R以及OCT提供了與放射線照相相似的病變深度測(cè)量,這對(duì)于病變?cè)\斷非常重要。SWIR-PT提供了高病變對(duì)比度和高病變檢測(cè)率。然而,它大大低估了病變的深度。此外,與其他方法相比,SWIR-PT成像更為繁瑣,需要每個(gè)接觸點(diǎn)進(jìn)行兩次測(cè)量(頰側(cè)和舌側(cè)),而不是單次測(cè)量。此外,SWIR-PT只能作為獨(dú)立探頭使用,不適合檢測(cè)咬合病變。相比之下,SWIR-R和OT可以組合成一個(gè)單一的多光譜SWIR-OTR探頭,可以用于檢測(cè)鄰面和咬合表面的病變,更適合于齲齒篩查。

CP-OCT在檢測(cè)牙齒咬合面近端病變方面表現(xiàn)非常出色,顯示出表面下強(qiáng)度清晰可辨的增加。圖像中的特征如亞表面強(qiáng)度增加和沿病變長(zhǎng)度的反射率不能與假陽(yáng)性混淆,也不能與牙本質(zhì)-釉質(zhì)界面(DEJ)反射率增加混淆,因?yàn)镈EJ在牙齒近端表面的位置和角度。CP-OCT確實(shí)遺漏了一些在放射線照片中清晰可見的病變,但似乎這些病變位于CP-OCT系統(tǒng)的成像范圍之外。所使用系統(tǒng)的掃描范圍在空氣中為7毫米,由于釉質(zhì)的高折射率(1.6)減少到4.4毫米。其他系統(tǒng)已經(jīng)在體外研究中進(jìn)行了調(diào)查,掃描范圍可達(dá)10毫米,能夠達(dá)到更深的病變。由于其潛在的高靈敏度和特異性,CP-OCT是近端病變的良好替代金標(biāo)準(zhǔn)候選者。它也非常適合自動(dòng)圖像分析和機(jī)器學(xué)習(xí)。


參考文獻(xiàn)

Zhu, Y., Le, O., Xue, J. et al. Clinical SWIR and CP-OCT imaging of interproximal lesions. BMC Oral Health 24, 959 (2024).


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