近紅外激光器與SilVIR探測器助力高級多色熒光共聚焦成像

1.缺乏光束質(zhì)量好的近紅外激光二極管

首先，適合共聚焦顯微鏡的光束質(zhì)量好的近紅外激光二極管并不容易獲得。足夠的功率（但不能過高）、極低的功率波動和兼容的光束輪廓都是用于共聚焦成像的激光二極管的必要特征。但直到最近，在這些波長范圍內(nèi)也只有少數(shù)近紅外激光二極管可供選擇。

但由于全新激光二極管技術(shù)的出現(xiàn)，改變了這一局面。我們的FV4000共聚焦顯微鏡現(xiàn)在提供685nm、730nm和785nm激光二極管，用于高效激發(fā)諸如下表所示的二級染料。

2.近紅外波長靈敏度降低的光電倍增管

實現(xiàn)高效近紅外成像的第二個挑戰(zhàn)是，許多被用作激光掃描共聚焦顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)探測器的光電倍增管(PMT)在近紅外波長區(qū)域（750nm以上）的典型檢測波長下靈敏度下降。

這種近紅外探測范圍內(nèi)靈敏度降低的情況，對于在可見光譜中部具有較高靈敏度的GaAsP PMT來說尤其如此。在750nm以上范圍內(nèi)，GaAsP探測器的靈敏度非常低。

利用近紅外標(biāo)記，實現(xiàn)5~6色熒光同步光譜成像

得益于這項技術(shù)，我們的FV4000系統(tǒng)可提供多達(dá)6個通道的SilVIR探測器，用于多色熒光應(yīng)用。

與我們的X Line高性能物鏡配套使用，F(xiàn)LUOVEW FV4000系統(tǒng)可在400-1000nm范圍內(nèi)提供高質(zhì)量的寬色差校正。SilVIR探測器和X-Line物鏡的結(jié)合使多色熒光成像和整體近紅外成像的可靠性大大提高。

同時，近紅外成像的效率受到光路系統(tǒng)多方面的影響，物鏡的紅外透過率和檢測器的檢測效率毋庸置疑是核心因素，但對于激光掃描共聚焦系統(tǒng)，掃描單元的掃描振鏡涉及多次光路的傳輸，紅外的反射效率對圖像亮度的影響是指數(shù)級的，Evident共聚焦系統(tǒng)采用具有銀鍍膜的掃描振鏡，對比傳統(tǒng)鋁鍍膜，反射效率更高，在紅外波段的反射效率差異尤其明顯，這大大降低了紅外光信號的損失，保證了最終紅外信號的高靈敏探測。

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