華測半導(dǎo)體材料封裝高低溫冷熱臺在測量熱導(dǎo)率方面,可能采用的方法主要包括穩(wěn)態(tài)法、瞬態(tài)法以及基于激光泵浦-熱反射的探測技術(shù)(如空間熱反射法SDTR)。以下是對這些方法的詳細(xì)分析:
一、穩(wěn)態(tài)法
穩(wěn)態(tài)法基于傅里葉定律,當(dāng)熱流在材料中達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)時,單位時間內(nèi)通過單位面積的熱量與材料兩側(cè)的溫度差成正比。該方法適用于均勻、均質(zhì)材料的熱導(dǎo)率測定。
測試步驟:
將待測半導(dǎo)體材料置于兩個恒溫源之間,使材料兩側(cè)形成恒定的溫度差。
測量材料兩側(cè)的溫度,通常使用熱電偶或熱敏電阻。
測量通過材料的熱流量,可以通過測量加熱器的功率或測量材料兩側(cè)的溫差來實現(xiàn)。
根據(jù)傅里葉定律,計算熱導(dǎo)率。
二、瞬態(tài)法
瞬態(tài)法是一種測量熱導(dǎo)率的快速方法,其基本原理是在短時間內(nèi)對材料加熱或冷卻,然后測量材料內(nèi)部的溫度分布,計算出熱導(dǎo)率。常用的瞬態(tài)法有熱線法和激光閃光法。
測試步驟(以激光閃光法為例):
確保測試樣品具有均勻的厚度和面積,表面平整,無缺陷。將樣品放置在測試儀器的樣品臺上,確保樣品與儀器接觸良好。
根據(jù)樣品的性質(zhì)設(shè)置測試參數(shù),如測試時間、加熱功率等。
啟動測試程序,儀器會在樣品背面加熱,測量樣品表面的溫度變化。
記錄測試過程中的溫度-時間數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)將用于計算熱導(dǎo)率。
使用傅里葉變換或其他數(shù)學(xué)方法分析溫度變化數(shù)據(jù),確定熱導(dǎo)率。
三、空間熱反射法(SDTR)
空間熱反射法同樣是基于激光泵浦-熱反射的探測技術(shù),可以針對小尺寸薄膜樣品的面內(nèi)熱物性進行測量。相比于其他激光泵浦探測方法(如TDTR、FDTR),它的優(yōu)勢在于可以測試薄膜樣品的面內(nèi)熱物性,且成本低廉。
測試原理:
SDTR通過改變泵浦和探測光斑的空間位置獲得相位和幅值信號,從而測量熱導(dǎo)率。一束泵浦激光經(jīng)正弦波調(diào)制后聚焦在樣品表面,對樣品進行周期性加熱;另一束波長不同的探測激光透過偏振分光棱鏡聚焦在樣品表面,探測樣品表面的溫度響應(yīng)。通過光電探測器將探測光光信號轉(zhuǎn)換成電信號,然后傳輸給鎖相放大器以提取信號的幅值和相位,進而計算熱導(dǎo)率。
測試步驟:
樣品表面鍍一層約100nm厚的金屬膜作為溫度傳感層。
調(diào)整光路,使泵浦光斑和探測光斑以不同的偏移距離xc照射在樣品表面。
記錄不同xc下的相位和幅值信號。
以xc=0時的相位和幅值信號為基準(zhǔn),對任意xc處的相位信號取其差分值。
同時擬合差分相位信號和歸一化幅值信號,即可提取樣品沿光斑偏移方向的面內(nèi)熱導(dǎo)率。
綜上所述,華測半導(dǎo)體材料封裝高低溫冷熱臺在測量熱導(dǎo)率方面可能采用多種方法,具體選擇哪種方法取決于待測材料的性質(zhì)、測試條件以及所需的精度等因素。在實際應(yīng)用中,應(yīng)根據(jù)具體情況選擇最合適的方法進行測量。
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