產(chǎn)品推薦:氣相|液相|光譜|質(zhì)譜|電化學(xué)|元素分析|水分測(cè)定儀|樣品前處理|試驗(yàn)機(jī)|培養(yǎng)箱


化工儀器網(wǎng)>技術(shù)中心>儀器文獻(xiàn)>正文

歡迎聯(lián)系我

有什么可以幫您? 在線咨詢

解鎖半導(dǎo)體材料測(cè)試新境界 ——Betterseishin MHT-1 設(shè)備

來源:秋山科技(東莞)有限公司   2025年03月11日 11:03  

解鎖半導(dǎo)體材料測(cè)試新境界 ——Betterseishin MHT-1 設(shè)備

image.png

在半導(dǎo)體行業(yè)飛速發(fā)展的今天,材料性能的精準(zhǔn)把控成為了決定產(chǎn)品質(zhì)量與競爭力的關(guān)鍵因素。Betterseishin 粒子壓縮測(cè)試設(shè)備 MHT-1,作為一款專為嚴(yán)苛測(cè)試需求打造的先進(jìn)儀器,正以未有的方式革新著半導(dǎo)體材料測(cè)試領(lǐng)域。
高精度測(cè)量,奠定品質(zhì)基石
半導(dǎo)體材料的性能對(duì)精度要求近乎苛刻。MHT-1 設(shè)備憑借其高精度測(cè)量能力,能夠精準(zhǔn)捕捉材料在壓縮過程中的每一個(gè)細(xì)微變化。無論是單晶硅晶圓各向異性的壓縮強(qiáng)度測(cè)量,還是化合物半導(dǎo)體晶圓彈性模量與泊松比的精準(zhǔn)獲取,MHT-1 都能以滿量程 ±0.5% 甚至更高的精度,為您提供可靠的數(shù)據(jù)支持,確保您在半導(dǎo)體材料研發(fā)與生產(chǎn)過程中,對(duì)材料性能了如指掌,為打造高品質(zhì)半導(dǎo)體產(chǎn)品奠定堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
全面覆蓋半導(dǎo)體材料測(cè)試場景
  1. 晶圓材料測(cè)試專家:無論是行業(yè)基石單晶硅晶圓,還是蓬勃發(fā)展的化合物半導(dǎo)體晶圓,MHT-1 都能應(yīng)對(duì)自如。通過對(duì)不同晶向單晶硅晶圓壓縮強(qiáng)度的測(cè)試,為晶圓加工工藝提供關(guān)鍵力學(xué)數(shù)據(jù),有效避免加工過程中的破裂與缺陷。針對(duì)化合物半導(dǎo)體晶圓,精確測(cè)定其壓縮性能參數(shù),助力優(yōu)化外延層生長條件,提升外延層質(zhì)量,讓您的半導(dǎo)體器件性能更上一層樓。

  1. 封裝材料可靠保障:半導(dǎo)體封裝材料的性能直接關(guān)系到器件的長期可靠性。MHT-1 可對(duì)塑封料在不同環(huán)境條件下的壓縮強(qiáng)度、蠕變性能進(jìn)行測(cè)試,幫助您優(yōu)化塑封料配方,增強(qiáng)其抗老化、抗開裂能力。同時(shí),對(duì)引線框架材料的壓縮測(cè)試,確保其在封裝及使用過程中的穩(wěn)定性,為半導(dǎo)體器件的電氣與機(jī)械性能保駕護(hù)航。

  1. 薄膜材料性能洞察:對(duì)于外延層薄膜和鈍化層薄膜,MHT-1 展現(xiàn)出強(qiáng)大的測(cè)試能力。通過巧妙結(jié)合光學(xué)測(cè)量或 X 射線衍射技術(shù),精準(zhǔn)測(cè)量外延層薄膜的壓縮應(yīng)力,助力工藝工程師優(yōu)化生長參數(shù)。而對(duì)鈍化層薄膜的納米壓痕或微壓縮測(cè)試,能深入洞察其硬度與彈性模量,優(yōu)化制備工藝,提升器件的可靠性與使用壽命。

用戶友好體驗(yàn),提升測(cè)試效率
MHT-1 配備了直觀易用的觸摸屏界面,即使是初次使用者也能迅速上手。用戶可輕松設(shè)置復(fù)雜的測(cè)試參數(shù),實(shí)時(shí)查看測(cè)試結(jié)果,大大提高了測(cè)試效率。同時(shí),設(shè)備具備可編程測(cè)試程序功能,您可以根據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)的各類測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與自身需求,定制專屬測(cè)試程序,實(shí)現(xiàn)靈活多樣的測(cè)試方案。
安全無憂,數(shù)據(jù)管理高效
在保障操作安全方面,MHT-1 配備了多重安全保護(hù)措施,如過載保護(hù)與緊急停止功能,為您的測(cè)試過程提供方位的安全保障。在數(shù)據(jù)處理方面,設(shè)備能夠自動(dòng)記錄詳細(xì)測(cè)試數(shù)據(jù),并生成專業(yè)分析報(bào)告,支持多種數(shù)據(jù)格式輸出,方便您進(jìn)行數(shù)據(jù)存檔與進(jìn)一步分析,讓您的半導(dǎo)體材料測(cè)試工作更加高效有序。
選擇 Betterseishin 粒子壓縮測(cè)試設(shè)備 MHT-1,就是選擇在半導(dǎo)體材料測(cè)試領(lǐng)域的地位。讓我們攜手,以精準(zhǔn)測(cè)試驅(qū)動(dòng)半導(dǎo)體行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展,共同開啟半導(dǎo)體材料性能優(yōu)化的新篇章。立即聯(lián)系我們,了解更多 MHT-1 設(shè)備信息,為您的半導(dǎo)體事業(yè)注入強(qiáng)大動(dòng)力!


免責(zé)聲明

  • 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
  • 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
  • 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
企業(yè)未開通此功能
詳詢客服 : 0571-87858618