DITEE SPEAR 500微波等離子體原子發(fā)射光譜儀技術參數(shù)解析

在元素分析儀器領域，技術參數(shù)是衡量設備性能的核心指標。DITEE SPEAR 500 MP-AES 微波等離子體原子發(fā)射光譜儀憑借一系列先進技術參數(shù)，在分析精度、檢測范圍、運行效率等方面展現(xiàn)出顯著優(yōu)勢，為多領域元素分析提供了可靠的技術支撐。

光學系統(tǒng)技術參數(shù)

該光譜儀采用抗基體光譜干擾的羅蘭圓光學系統(tǒng)，在波長覆蓋范圍與分辨率上表現(xiàn)出色。其波長檢測范圍為175-870nm，可實現(xiàn)全譜采集，滿足多種元素的特征譜線檢測需求。光學分辨率達到0.006nm，這種高分辨率設計能夠有效區(qū)分相鄰譜線，減少光譜干擾，保證分析結果的準確性。

儀器配備科研級CMOS檢測器，由24塊高性能線陣CMOS組成檢測陣列，每塊CMOS具有2048×64像素的檢測單元。這種高靈敏度的檢測系統(tǒng)搭配全一級譜線羅蘭光室，實現(xiàn)了純一級譜線輸出，進一步降低了光譜干擾，使儀器在復雜樣品分析中仍能保持良好的檢測精度。

等離子體系統(tǒng)參數(shù)

在等離子體發(fā)生與控制方面，儀器采用高性能工業(yè)磁控管作為能量源，微波頻率為2450MHz，功率可調范圍在750-1500W，且功率輸出穩(wěn)定性≤1%。這種穩(wěn)定的功率輸出確保了等離子體的穩(wěn)定性，為元素分析提供了可靠的激發(fā)條件。

該光譜儀的一大技術亮點是采用空氣或氮氣作為工作氣體，摒棄了傳統(tǒng)儀器使用的乙炔、笑氣或氬氣。提高了儀器使用的安全性。同時，儀器采用高效耦合免水冷技術，通過風冷系統(tǒng)實現(xiàn)散熱，確保了等離子體系統(tǒng)的穩(wěn)定運行，無需額外配備水冷裝置，簡化了儀器結構與使用要求。

分析性能參數(shù)

在分析性能上，DITEE SPEAR 500 MP-AES表現(xiàn)出寬線性范圍與低檢測限的特點。其線性動態(tài)范圍超過10?，能夠滿足從痕量到高濃度樣品的分析需求，減少了因樣品濃度差異過大而需要多次稀釋的操作，提高了分析效率。

多數(shù)元素的檢測限達到亞ppb級，與ICP-OES相當。以常見元素為例，銅的檢測限≤0.5ppb，鉛的檢測限≤1ppb，鋅的檢測限≤0.3ppb，這樣的檢測能力適用于痕量元素分析場景。儀器的短期穩(wěn)定性（1小時）RSD≤1.5%，長期穩(wěn)定性RSD≤2%，良好的穩(wěn)定性保證了檢測結果的可靠性與重復性。

進樣與系統(tǒng)參數(shù)

儀器為一體化臺式設計，外形尺寸為1000mm×800mm×600mm，重量約80kg，緊湊的設計使其能夠適應多種實驗室環(huán)境。在進樣系統(tǒng)方面，標配液體進樣系統(tǒng)，霧化器采用同心霧化器，霧化室為旋流霧化室。同時，儀器可選配激光剝蝕固體進樣系統(tǒng)，拓展了固體樣品的分析能力，為不同類型樣品的分析提供了靈活選擇。

環(huán)境適應性參數(shù)

在環(huán)境適應方面，儀器內置35℃恒溫光學系統(tǒng)，采用全封閉設計，可在15-30℃的環(huán)境溫度和20%-80%的相對濕度條件下穩(wěn)定運行，且無結霜現(xiàn)象。這種設計使其能夠適應不同地區(qū)、不同工業(yè)環(huán)境的使用需求，減少了環(huán)境因素對分析結果的影響。

儀器的垂直矩管徑向觀測設計，有效防止了樣品堵塞與污染，特別適合高基體樣品的分析。同時，儀器具備自動波長校準功能，確保了波長的準確性與儀器的長期穩(wěn)定運行。

從光學系統(tǒng)的高分辨率設計到等離子體系統(tǒng)的創(chuàng)新氣體選擇，從寬動態(tài)范圍的分析性能到出色的環(huán)境適應性，DITEE SPEAR 500 MP-AES 微波等離子體原子發(fā)射光譜儀的各項技術參數(shù)相互協(xié)同，共同構建了其在元素分析領域的技術優(yōu)勢，為新能源、冶金、環(huán)境等眾多領域的元素分析提供了精準、高效、經濟的解決方案。