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Niton分析儀的XRF 原理信息

來源:無錫駿展儀器有限責任公司   2025年07月02日 12:53  
XRF 原理的革新應用
Niton 分析儀采用先進的能量色散 X 射線熒光(EDXRF)技術,構建了一套完整的元素分析生態(tài)系統(tǒng)。當儀器發(fā)射的初級 X 射線束轟擊樣品表面時,元素原子內(nèi)層電子被激發(fā)產(chǎn)生空穴,外層電子躍遷填補空穴時釋放出特征 X 射線熒光。通過高分辨率硅漂移探測器(SDD)捕捉這些具有元素特異性的能量信號,結合 Axon 技術平臺的智能算法,可在 2-60 秒內(nèi)完成從 Na(11)到 U(92)共 70 余種元素的定性定量分析。
以鋁合金成分檢測為例,傳統(tǒng)濕法分析需 2 小時以上的前處理流程,而 Niton XL2 型號可在現(xiàn)場直接穿透氧化膜,精確測定 Si、Mg、Cu 等合金元素的百分占比,誤差控制在 ±0.1% 以內(nèi)。這種 "即測即得" 的技術優(yōu)勢,改變了實驗室檢測的時空限制


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