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直讀光譜儀的核心原理在于將待測樣品中的原子激發(fā)，并通過對特征光譜的定性與定量分析，實現(xiàn)快速、精準的元素成分測定。其技術鏈條始于“電火花激發(fā)”。在氬氣保護的激發(fā)臺上，儀器在樣品（作為電極之一）與分析間隙之間施加高壓脈沖，產生瞬時高溫等離子體（電火花）。樣品表面微量物質被氣化并原子化，原子外層電子獲得能量躍遷至不穩(wěn)定的高能級。
當這些激發(fā)態(tài)電子回落至低能級時，會釋放出特定波長的光輻射，即元素的“特征光譜”。不同元素擁有其的、如同“指紋”般的光譜線。傳統(tǒng)技術瓶頸在于，采用光電倍增管（PMT）的譜儀只能設置有限通道測量特定元素譜線，靈活性差且難以應對未知元素分析。
真正的技術突破是“全譜分析”技術的實現(xiàn)。這依賴于兩項關鍵革新：一是中階梯光柵與交叉色散技術的應用。中階梯光柵提供高分辨率和高色散率，將復雜的光譜在二維平面上精細展開；交叉色散技術則能有效分離不同級次的光譜，形成清晰的全譜二維圖譜。二是高性能面陣檢測器（如CCD或CMOS）的引入。該探測器能夠同時接收并數字化整個波長范圍內的全部光譜信息，一次性捕獲從紫外到可見光區(qū)的所有譜線。
這一突破使得直讀光譜儀實現(xiàn)了從“管測”到“全譜”的飛躍。它不僅保留了傳統(tǒng)直讀光譜速度快、精度高的優(yōu)點，更具備了分析元素靈活（可根據軟件選擇分析線）、儀器結構緊湊、穩(wěn)定性更高以及后期升級便捷（通過軟件增加分析元素）的巨大優(yōu)勢。因此，全譜直讀光譜技術標志著現(xiàn)代元素分析進入了一個更強大、更智能的新時代，成為冶金、鑄造、質檢等領域的利器。
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