紅外光譜儀使用全過程中的常見問題?
紅外光譜儀使用全過程的常見問題集中在樣品制備、儀器操作、數(shù)據(jù)處理、儀器維護四個環(huán)節(jié),核心影響因素是樣品狀態(tài)、環(huán)境干擾、操作規(guī)范性,多數(shù)問題可通過提前規(guī)避和正確處理解決。
樣品純度不足,雜峰干擾嚴重
問題表現(xiàn):譜圖中出現(xiàn)多余吸收峰,無法準確識別目標物質(zhì)的特征峰。
常見原因:樣品中含有溶劑殘留(如乙醇、丙酮)、水分,或未去除雜質(zhì)(如固體樣品中的灰塵、液體樣品中的懸浮顆粒)。
解決方法:固體樣品需通過重結(jié)晶、蒸餾等方式提純;液體樣品需用無水硫酸鈉干燥除水,或采用溶劑萃取法去除雜質(zhì);測試前確保樣品容器(如 KBr 壓片模具、液體池)清潔無殘留。
樣品形態(tài)不當,無法有效透光
固體 KBr 壓片時,樣品與 KBr 混合比例不當(通常樣品占比 1%-2%,比例過高易飽和,過低信號弱),或壓片不緊實、有裂紋,導致光線散射。
液體樣品過濃,或液體池厚度選擇錯誤(如高濃度樣品用 1mm 厚池,易出現(xiàn)飽和峰)。
問題表現(xiàn):譜圖基線漂移嚴重、吸收峰強度過低或出現(xiàn)平頭峰(信號飽和)。
常見原因:
解決方法:調(diào)整樣品與 KBr 混合比例,確保壓片均勻無裂紋;根據(jù)樣品濃度選擇合適厚度的液體池(低濃度用 5mm 厚池,高濃度用 0.1mm 厚池)。
基線校正失敗或基線漂移
儀器內(nèi)部受潮(濕度>65%),導致光學部件(如檢測器、光柵)性能不穩(wěn)定。
基線校正時,背景掃描區(qū)域有污染物(如樣品室殘留樣品、空氣中的水汽 / CO?)。
儀器長時間未使用,光學部件未達到穩(wěn)定狀態(tài)。
問題表現(xiàn):基線無法平直,或測試過程中基線持續(xù)向上 / 向下漂移,影響峰面積積分與峰位判斷。
常見原因:
解決方法:開啟儀器內(nèi)置除濕功能,或在樣品室放置干燥劑(如變色硅膠),待濕度降至 40%-60% 再校正;校正前清潔樣品室,用空白 KBr 片或空液體池掃描背景;開機后預熱 30-60 分鐘,待儀器穩(wěn)定后再操作。
樣品室污染或部件錯位
測試后未及時清理樣品室,殘留樣品揮發(fā)或散落,污染光學鏡片。
放置樣品時碰撞樣品臺,導致樣品臺位置偏移,光線無法正常通過樣品。
液體樣品泄漏,腐蝕樣品室內(nèi)部部件(如金屬樣品臺、密封墊)。
問題表現(xiàn):譜圖中出現(xiàn)固定位置的雜峰(如空氣中 CO?的 2349cm?1 峰、水汽的 1630cm?1 峰異常增強),或儀器報錯 “樣品室未關閉”“檢測器異常”。
常見原因:
解決方法:每次測試后用干凈的軟布擦拭樣品室,若有液體泄漏,立即用無水乙醇清理并晾干;調(diào)整樣品臺位置,確保樣品中心與光路對齊;定期檢查樣品室密封墊,若老化或損壞及時更換。
譜圖峰位偏移或峰形異常
樣品測試時溫度波動(如室溫變化超過 5℃),導致分子振動頻率改變。
數(shù)據(jù)處理時分辨率設置不當(如低分辨率掃描導致峰形寬化,無法區(qū)分鄰近峰)。
固體樣品研磨不充分,顆粒度過大,導致光線散射,峰形失真。
問題表現(xiàn):目標物質(zhì)的特征峰位置與標準譜圖偏差超過 1-2cm?1,或峰形寬化、分裂。
常見原因:
解決方法:在恒溫環(huán)境(20-25℃)下測試,避免溫度劇烈變化;根據(jù)樣品需求選擇合適分辨率(通常有機化合物測試用 4cm?1 分辨率,精細分析用 2cm?1);固體樣品需研磨至粒徑<5μm,確?;旌暇鶆?。
譜圖匹配度低,無法準確定性
樣品中含有多種雜質(zhì),干擾特征峰識別。
譜庫選擇錯誤(如用無機物譜庫匹配有機樣品,或譜庫版本過舊,缺少目標物質(zhì)譜圖)。
測試范圍設置不當(如未覆蓋目標物質(zhì)的關鍵特征峰區(qū)域,如 OH 的 3200-3600cm?1)。
問題表現(xiàn):測試譜圖與標準譜庫中的譜圖匹配度低于 80%,無法確定樣品成分。
常見原因:
解決方法:先提純樣品,去除雜質(zhì)后重新測試;選擇與樣品類型匹配的譜庫(如 NIST、Sadtler 譜庫);確保測試范圍覆蓋 4000-400cm?1(中紅外區(qū)),避免遺漏關鍵特征峰。
檢測器靈敏度下降
問題表現(xiàn):譜圖信號強度顯著降低,信噪比變差,弱吸收峰無法識別。
常見原因:檢測器長時間使用后老化,或暴露在強光、高濕度環(huán)境中受損;檢測器窗口有灰塵或樣品殘留,影響光線接收。
解決方法:定期(每 3-6 個月)由專業(yè)人員檢查檢測器性能,若老化嚴重需更換;每次維護時用鏡頭紙蘸無水乙醇輕輕擦拭檢測器窗口,避免刮傷。
光源壽命縮短或能量不足
問題表現(xiàn):儀器報錯 “光源能量低”,或譜圖中全波段信號強度普遍偏低。
常見原因:光源(如硅碳棒、氘燈)使用時間超過壽命(通常硅碳棒壽命為 2000-3000 小時);光源供電不穩(wěn)定,或光源與光路 alignment 偏移。
解決方法:記錄光源使用時間,達到壽命前及時更換;檢查儀器供電電壓是否穩(wěn)定(需符合 220V±5% 要求);若光路偏移,聯(lián)系廠家技術(shù)人員重新校準光路。
了解一下紅外光譜儀的操作步驟




