儀器簡介:
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因,其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應力,引起雙折射,晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學特征。WYL-4應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理,通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應力雙折射的大小。本儀器能測定光學波片的光程差、確定光學玻璃的應力級別,是光學儀器制造業(yè)*的儀器,也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具,廣泛應用在國防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學方面,是各大專院校特別理想的教學實驗設(shè)備。
儀器特點:
l直讀納米級光程差,無須計算。
l雙分視場零位檢測,靈敏度高。
l樣品工作臺45度自動定位。
l體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
l操作方便,可靠實。
技術(shù)指標:
l單色光波長:589.44nm
l光程差測定范圍:(0~590)nm
l分度盤分度值:5 nm
l零位誤差:±2nm
l測量重復性:1nm
l被測試樣尺寸:寬度≤440mm,高度≤240 mm,長度不限
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