紫外近紅應(yīng)用-薄膜測(cè)量

來(lái)源：天津市拓普儀器有限公司 2014年08月20日 14:36

實(shí)驗(yàn)三紫外可見(jiàn)反射薄膜測(cè)量

目的：研究薄膜的光學(xué)透射性能

檢測(cè):不同金屬薄膜在紫外可見(jiàn)近紅外的光譜

原理：研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性

試驗(yàn)方法：

采用紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)中波長(zhǎng)掃描方式，做基線(xiàn)，后測(cè)定樣品

測(cè)定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見(jiàn)區(qū)光學(xué)性能不同

圖表 1 不同位置反射率

相關(guān)產(chǎn)品

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