什么是測(cè)量方法?測(cè)量方法有哪些?測(cè)量顯微鏡常識(shí)

金相顯微鏡

什么是測(cè)量方法?測(cè)量方法有哪些?測(cè)量顯微鏡常識(shí)

    所謂測(cè)量方法，是指測(cè)量過(guò)程中所用的量具或計(jì)量?jī)x器和

測(cè)量條件的總和，包括比較的方式(測(cè)量原理)等。具休包括以下

幾點(diǎn):①具有一定精度指標(biāo)的量具和計(jì)zui儀器;②被測(cè)零件的特

性及其參數(shù)特點(diǎn);⑧標(biāo)準(zhǔn)件;④測(cè)員基面及其定位形式;⑤瞄準(zhǔn)

形式;⑥測(cè)量力和接觸形式;⑦測(cè)量的客觀條件(溫度、濕度等)。

測(cè)量顯微鏡測(cè)量方法有以下幾種:

    (1)直接測(cè)量和間接測(cè)量

    從獲得測(cè)員結(jié)果的方式不同，測(cè)量可分為直接測(cè)zui和間接

測(cè)量?jī)深悺Ｋ^直接測(cè)量就是測(cè)量結(jié)果可以直接地由量具或

址儀的讀數(shù)裝置上讀得被測(cè)的量的大小，例如用千分尺測(cè)量一

個(gè)外圓柱直徑、用游標(biāo)卡尺測(cè)zui一段長(zhǎng)度等，所謂間接測(cè)量，

就是測(cè)量的結(jié)果不是直接獲得的，而是由測(cè)量與其有一定關(guān)系

的量，通過(guò)計(jì)算得到被測(cè)的量的大小。例如用正弦規(guī)測(cè)zui錐體

的錐角，用圓柱(圓球)法測(cè)景大圓弧半徑，用弓高弦長(zhǎng)法測(cè)

量一段非整圓的圓弧半徑等，測(cè)量后，要經(jīng)過(guò)計(jì)算才能得到被

測(cè)的量的大小。

    (2)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量:

    從比較方式的不同，測(cè)量可分為測(cè)量和相對(duì)測(cè)量?jī)深悺?/span>

    所謂測(cè)量，是指被測(cè)的址和測(cè)量單位的標(biāo)準(zhǔn)量直接比

較后，就可得到其值。例如用百分尺測(cè)量直徑、用游標(biāo)卡

尺測(cè)量長(zhǎng)度，既是直接測(cè)量，又是測(cè)量，

    所謂相對(duì)測(cè)量，是指被測(cè)的量要與標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行比較之后，’

根據(jù)偏差值才能確定被測(cè)的量的大小。例如用指示千分尺測(cè)量

軸徑、用測(cè)微儀和量塊測(cè)量圓柱直徑等。

    相對(duì)測(cè)量方法的出現(xiàn)，是測(cè)量技術(shù)的一個(gè)進(jìn)步，它使測(cè)量

儀器的結(jié)構(gòu)大為簡(jiǎn)化，便于采用各種原理進(jìn)行放大，獲得更高

的梢度，同時(shí)由于與標(biāo)準(zhǔn)件比較，所以對(duì)測(cè)量條件的要求可以

適當(dāng)放寬些。

    (3)接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量:

    從接觸形式的不同，測(cè)量可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量?jī)?/span>

種。

    所謂接觸測(cè)量，是指測(cè)量時(shí)，量具或量?jī)x的測(cè)頭直接與被

測(cè)零件表面接觸。例如用深度尺測(cè)量梢深等。

    所謂非接觸測(cè)量，是指測(cè)量時(shí)，測(cè)量顯微鏡或量?jī)x與被測(cè)零

件無(wú)直接機(jī)械接觸，而是通過(guò)其他介質(zhì)(如光、氣流等)與零件接

觸。例如在投影儀上將放大了的零件輪廓與標(biāo)準(zhǔn)的放大圖進(jìn)行

比較;用氣動(dòng)量?jī)x測(cè)量孔徑等。

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