耐壓測試與絕緣阻抗測試之間有什么不同呢？

來源：蘇州裕登電子科技有限公司 2016年05月04日 11:33

絕緣阻抗(IR)測試是一種定性測試，提供絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。測試時(shí)通常用500V或1000V的DC 電壓進(jìn)行，結(jié)果用兆歐電阻(MΩ)來度量。

耐壓測試(Hi-Pot)測試則是一種定量測試，同樣也給DUT施加高壓，但所加電壓比絕緣阻抗(IR)測試的高；而且視不同要求可以在AC或DC電壓下進(jìn)行。結(jié)果則用毫安(mA)或微安(uA)來度量。

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