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桌上型高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試車載電子設(shè)備可靠性和耐久性的方法

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    2025年01月02日
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資料簡(jiǎn)介

桌上型高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試車載電子設(shè)備可靠性和耐久性的方法

一、前言:

隨著汽車行業(yè)的快速發(fā)展,車載電子設(shè)備的應(yīng)用日益廣泛,其可靠性和耐久性直接關(guān)系到車輛的整體性能與行車安全。為了確保車載電子設(shè)備在復(fù)雜多變的溫度環(huán)境下能夠穩(wěn)定、可靠地運(yùn)行,本測(cè)試采用桌上型高低溫試驗(yàn)箱,對(duì)車載電子設(shè)備進(jìn)行了系統(tǒng)的可靠性和耐久性測(cè)試分析。

二、試驗(yàn)前準(zhǔn)備

設(shè)備檢查:確保高低溫試驗(yàn)箱功能正常,能準(zhǔn)控制溫度,且箱內(nèi)溫場(chǎng)均勻性符合要求。同時(shí)檢查車載電子設(shè)備的外觀、功能正常,記錄初始狀態(tài)。

確定測(cè)試條件:依據(jù)車載電子設(shè)備的使用環(huán)境和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定測(cè)試溫度范圍,如一般車輛電子設(shè)備低溫可能設(shè)為 40℃,高溫設(shè)為85℃左右;還需確定溫度變化速率,如每分鐘3-5℃的升降溫速率。

設(shè)備安裝:將車載電子設(shè)備正確放置在試驗(yàn)箱內(nèi)的合適位置,確保其周圍空氣流通良好,并且連接好必要的監(jiān)測(cè)設(shè)備,如數(shù)據(jù)采集線、電源等,同時(shí)要做好設(shè)備的固定,防止在試驗(yàn)過程中發(fā)生位移。

三、測(cè)試過程

溫度循環(huán)測(cè)試:設(shè)置多個(gè)溫度循環(huán)周期,讓試驗(yàn)箱的溫度在高低溫之間反復(fù)變化。在每個(gè)溫度極值點(diǎn)保持一定時(shí)間,例如在 40℃和85℃各保持2-4小時(shí),模擬車輛在不同季節(jié)和環(huán)境下的使用情況,觀察設(shè)備在溫度變化過程中的性能變化。

高溫運(yùn)行測(cè)試:將試驗(yàn)箱溫度設(shè)定為設(shè)備工作溫度上限以上一定值,如90℃,讓設(shè)備在此高溫環(huán)境下持續(xù)運(yùn)行一定時(shí)間,比如24-48小時(shí),檢查設(shè)備是否會(huì)出現(xiàn)過熱保護(hù)、性能下降或者元件損壞等情況。

低溫啟動(dòng)測(cè)試:把試驗(yàn)箱溫度降到設(shè)備工作溫度下限以下一定值,如 45℃,保持一段時(shí)間后嘗試啟動(dòng)設(shè)備,看設(shè)備能否正常啟動(dòng)和運(yùn)行,并且檢測(cè)其啟動(dòng)時(shí)間、啟動(dòng)電流等參數(shù)是否在正常范圍內(nèi)。

四、監(jiān)測(cè)與記錄

性能參數(shù)監(jiān)測(cè):在測(cè)試過程中,通過連接的測(cè)試設(shè)備實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)車載電子設(shè)備的各項(xiàng)性能參數(shù),如工作電流、工作電壓、信號(hào)傳輸質(zhì)量等。

故障記錄:如果設(shè)備出現(xiàn)故障,記錄故障發(fā)生的時(shí)間、溫度環(huán)境、故障現(xiàn)象等信息,以便后續(xù)分析故障原因。

測(cè)試后分析

恢復(fù)測(cè)試:測(cè)試結(jié)束后,將設(shè)備取出放置在常溫環(huán)境下恢復(fù)一段時(shí)間,如2-4小時(shí),然后檢查設(shè)備性能是否能恢復(fù)到初始狀態(tài)。

測(cè)試項(xiàng)目

測(cè)試條件

測(cè)試時(shí)間

監(jiān)測(cè)參數(shù)

測(cè)試前數(shù)據(jù)

低溫極值數(shù)據(jù)

高溫極值數(shù)據(jù)

恢復(fù)后數(shù)據(jù)

數(shù)據(jù)是否正常

備注

溫度循環(huán)測(cè)試

-40℃保持3h→以5℃/min升溫至85℃保持3h,循環(huán)5次

30h

設(shè)備工作電流(A)設(shè)備工作電壓(V)關(guān)鍵信號(hào)強(qiáng)度(dB)

0.5A

12V

30dB

0.48A

11.8V

32dB

0.52A

12.2V

-28dB

0.5A

12V

-30dB

/否(對(duì)比測(cè)試前數(shù)據(jù),在允許誤差范圍內(nèi)為是)

記錄每次循環(huán)的極值數(shù)據(jù)

高溫運(yùn)行測(cè)試


90℃持續(xù)運(yùn)行24h 24h 設(shè)備外殼溫度(℃)內(nèi)部芯片溫度(℃)數(shù)據(jù)傳輸誤碼率(%)

30℃(環(huán)境溫度)50℃

0.01%

80℃0.05%

30℃(環(huán)境溫度)50℃

01%


/否(外殼溫度不超溫限,芯片溫度不超規(guī)格書,誤碼率不超標(biāo)準(zhǔn)為是)

若出現(xiàn)故障,記錄故障發(fā)生時(shí)間

低溫啟動(dòng)測(cè)試

45℃保持4h后啟動(dòng)設(shè)備

4h+啟動(dòng)時(shí)間 啟動(dòng)電流(A)啟動(dòng)時(shí)間(s)設(shè)備啟動(dòng)后工作狀態(tài)

1.5A

2s正常

1.8A

3s正常




/否(啟動(dòng)電流和時(shí)間在設(shè)計(jì)范圍內(nèi),啟動(dòng)后工作正常為是)

觀察啟動(dòng)過程有無異常

數(shù)據(jù)分析:對(duì)記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,評(píng)估設(shè)備在高低溫環(huán)境下的可靠性和耐久性。根據(jù)測(cè)試結(jié)果判斷設(shè)備是否符合使用要求,對(duì)不符合要求的部分提出改進(jìn)建議。

在實(shí)際測(cè)試中,應(yīng)詳細(xì)記錄各項(xiàng)數(shù)據(jù),并根據(jù)設(shè)備的技術(shù)規(guī)格書和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來判斷數(shù)據(jù)是否正常。如果發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)異常,要深入分析可能導(dǎo)致異常的原因,如設(shè)備的散熱設(shè)計(jì)問題、電子元件的低溫耐受性差等,以便對(duì)車載電子設(shè)備進(jìn)行針對(duì)性的改進(jìn)和優(yōu)化,提高其可靠性和耐久性。

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